[发明专利]物体的检测方法及装置、电子设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202010858259.5 申请日: 2020-08-24
公开(公告)号: CN112101134A 公开(公告)日: 2020-12-18
发明(设计)人: 孙明珊;暴天鹏;吴立威 申请(专利权)人: 深圳市商汤科技有限公司
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06K9/34;G06K9/62
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 熊永强;董文俊
地址: 518054 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 物体 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种物体的检测方法,其特征在于,包括:

基于目标图像,得到第一子图像集;所述第一子图像集中的多个子图像均包含于所述目标图像且所述多个子图像中任一子图像的尺寸小于所述目标图像的尺寸;

对所述第一子图像集中的各子图像进行目标检测,得到多个子图像检测结果;所述多个子图像检测结果与所述多个子图像一一对应,所述多个子图像检测结果包含针对所述多个子图像中任一子图像进行目标检测得到的第一子图像检测结果,所述任一子图像中包括目标物体,所述第一子图像检测结果包括用于确定所述目标物体在所述目标图像中的边界框的信息和所述目标物体的类别信息;

基于所述多个子图像检测结果,得到目标检测结果;所述目标检测结果包含所述目标物体在所述目标图像中的边界框的坐标和所述目标物体的类别信息。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于目标图像,得到第一子图像集包括:

将所述目标图像切割为多个目标尺寸的子图像,得到所述第一子图像集;所述第一子图像集中任意两个在所述目标图像中相邻的子图像存在交叠。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述将所述目标图像切割为多个目标尺寸的子图像,得到所述第一子图像集包括:

将所述目标图像切割为多个所述目标尺寸的子图像,得到第二子图像集;

从所述第二子图像集中剔除属于纯背景的子图像,得到所述第一子图像集。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述从所述第二子图像集中剔除属于纯背景的子图像,得到所述第一子图像集包括:

计算所述第二子图像集中各子图像的方差;

从所述第二子图像集中剔除方差小于方差阈值的子图像,得到所述第一子图像集。

5.根据权利要求1至4任一项所述的方法,其特征在于,所述基于所述多个子图像检测结果,得到目标检测结果包括:

基于所述多个子图像检测结果包含的至少一个物体在子图像中的边界框的坐标以及所述多个子图像在所述目标图像中的位置信息,确定所述至少一个物体在所述目标图像中对应的边界框的坐标;所述目标检测结果包含所述至少一个物体在所述目标图像中对应的边界框中的至少一个边界框的坐标。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述用于确定所述目标物体在所述目标图像中的边界框的信息为所述任一子图像中包含所述目标物体的第一矩形框的四个顶点在以所述任一子图像中的第一坐标为原点的坐标系中的坐标,所述第一坐标为所述任一子图像中的任一坐标;所述基于所述多个子图像检测结果包含的至少一个物体在子图像中的边界框的坐标以及所述多个子图像在所述目标图像中的位置信息,确定所述至少一个物体在所述目标图像中对应的边界框的坐标包括:

分别计算所述第一矩形框的四个顶点在以所述第一坐标为原点的坐标系中的坐标和所述第一坐标在以所述目标图像中的第二坐标为原点的坐标系中的坐标之和,得到所述目标图像中包含所述目标物体的第二矩形框的四个顶点在以所述第二坐标为原点的坐标系中的坐标;所述第二坐标为所述目标图像中的任一坐标,所述目标物体在所述目标图像中对应的边界框的坐标为所述第二矩形框的四个顶点在以所述第二坐标为原点的坐标系中的坐标。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述至少一个物体在所述目标图像中对应的边界框包括第一边界框和第二边界框;在确定所述至少一个物体在所述目标图像中对应的边界框的坐标之后,所述方法还包括:

在所述第一边界框和所述第二边界框的重合度超过重合度阈值的情况下,去除所述第二边界框;所述第二边界框的分类得分低于所述第一边界框的分类得分,所述第一边界框的分类得分为对所述第一边界框包含的物体做目标检测得到的分类得分,所述第二边界框的分类得分为对所述第二边界框包含的物体做目标检测得到的分类得分。

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