[发明专利]一种FLASH芯片的测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种FLASH芯片的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括主服务器、交换机、子服务器、测试机台，所述交换机分别与所述主服务器、所述子服务器连接，所述测试机台与所述子服务器连接；

所述主服务器用于对测试机台的数据进行远程配置，以及对生产信息进行处理；

所述交换机用于将子服务器与主服务器连接到同一网络；

所述子服务器用于对测试机台进行管理，将主服务器下发的配置信号转发至测试机台，并将测试机台反馈的反馈信号转发至主服务器；

所述测试机台包括若干个测试子系统，所述测试子系统用于对FLASH芯片进行测试；

所述测试机台与FLASH芯片连接，通过点触式接触FLASH芯片的信号点；

所述测试子系统分为3层架构，3层架构分别由内核层、路由层和应用层组成；

内核层用于实现DWC3/DWC2 OTG，其中OTG的实现是用于多设备采用USB级联的方式，收发由HOST端传送的数据，DWC3为USB3.0模式，DWC2为USB2.0模式；

内核层还用于实现SD私有命令的实现；

内核层还用于实现SD信息与上层的通讯；

路由层用于USB级联时信号的转发和内核的通信以及应用层软件的通信；

路由层还用于与内核层的通信；当测试子系统作为Device设备接收到USB HOST发送过来的信息，内核层需要将数据传送给路由层分析，打通了内核与路由层的连接通路；

路由层还用于数据转发；接收到内核层传送的数据后，根据协议查看数据是要给其它的子系统还是本系统使用，将数据根据情况发送到下一级子系统或转发到应用层软件；

应用层由主体程序、U盘量产工具、测试工具组成；主体程序包括USB枚举及上下盘管理、SD枚举及上下盘管理、USB/SD卡的Scsi通信、OTG服务器通信和Serial服务器通信；

其中USB枚举及上下盘管理具体包括开机检查已经连接的设备和热插拔设备两种情况，当检测到设备插入时，打开设备供后面量产或检测工具进行QC工作；

SD枚举及上下盘管理包括开机检查已经连接的设备和热插拔设备两种情况，当检测到设备插入时，打开设备供量产或检测工具进行QC工作；

USB/SD卡的Scsi通信是指通过Scsi方式实现与产品的通信；

OTG服务器通信是指通过USB OTG方式与子服务器的通信；

Serial服务器通信是指通过串口方式与子服务器进行通信。

2.根据权利要求1所述的FLASH芯片的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括显示设备，所述显示设备与所述主服务器连接；

所述显示设备用于显示生产信息。

3.根据权利要求1所述的FLASH芯片的测试系统，其特征在于，所述主服务器包括UDP通报单元、条码管理单元、配置管理单元、子服务器管理单元、结果记录单元；

所述UDP通报单元用于在局域网内通报UDP信息；

所述条码管理单元用于为测试机台的生产料盘进行编号并管理；

所述配置管理单元用于对测试机台的生产参数进行配置，并将配置更新到指定的子服务器上；

所述子服务器管理单元用于对子服务器的命名、配置以及生产状态进行管理；

所述结果记录单元，用于对测试子系统的运行结果进行记录。

4.根据权利要求3所述的FLASH芯片的测试系统，其特征在于，所述主服务器还包括文件传输单元，

所述文件传输单元用于更新配置以及查看子服务器中的测试子系统生成的日志文件。

5.根据权利要求4所述的FLASH芯片的测试系统，其特征在于，所述主服务器还包括显示管理单元，

所述显示管理单元用于显示子服务器下对应的子系统的生产信息。