[发明专利]eMMC芯片测试系统和通断电测试方法在审

专利信息
申请号: 202010859593.2 申请日: 2020-08-24
公开(公告)号: CN112053738A 公开(公告)日: 2020-12-08
发明(设计)人: 李斌 申请(专利权)人: 深圳市宏旺微电子有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 深圳市诺正鑫泽知识产权代理有限公司 44689 代理人: 林国友
地址: 518000 广东省深圳市南山区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: emmc 芯片 测试 系统 断电 方法
【权利要求书】:

1.一种eMMC芯片测试系统,其特征在于,由XU4平台和eMMC芯片测试平台组成所述eMMC测试系统对eMMC芯片进行通断电测试,其中,

所述XU4平台包括数据传输电路、存储设备、XU4主控芯片、第一信号传输接口、电源模块和第一电源接口,所述数据传输电路和电源模块均与存储设备连接,所述数据传输电路还与XU4主控芯片连接,所述存储设备与XU4主控芯片连接,所述XU4主控芯片与第一信号传输接口连接,所述电源模块与第一电源接口连接;

所述eMMC芯片测试平台包括第二电源接口、第二信号传输接口、电压转换模块和测试芯片电路,所述第二电源接口与电压转换模块连接,所述电压转换模块具有第一输出端和第二输出端均接入测试芯片电路,所述第二信号传输接口与测试芯片电路连接;

所述数据传输电路与外部的PC设备连接,所述第一电源接口与第二电源接口接通,所述第一信号传输接口与第二信号传输接口接通。

2.根据权利要求1所述的eMMC芯片测试系统,其特征在于,所述XU4平台还包括烧录电路,所述烧录电路与XU4主控芯片连接。

3.根据权利要求1所述的eMMC芯片测试系统,其特征在于,所述eMMC芯片测试平台还包括电源外接口,所述电源外接口与第二电源接口连接。

4.根据权利要求1所述的eMMC芯片测试系统,其特征在于,所述eMMC测试平台还包括3.3V外接口和1.8V外接口,所述3.3V外接口与电压转换模块的第一输出端接入测试芯片电路的线路共线连接,所述1.8V外接口与电压转换模块的第二输出端接口测试芯片电路的线路共线连接。

5.根据权利要求1所述的eMMC芯片测试系统,其特征在于,所述eMMC测试平台还包括信号外接口,所述信号外接口接入第二信号传输接口与测试芯片电路的线路上。

6.根据权利要求1所述的eMMC芯片测试系统,其特征在于,所述电压转换模块包括第一电压输出电路和第二电压输出电路,所述第一电压输出电路与电压转换模块的第一输出端连接,所述第二电压输出电路与第二输出端连接;

所述第一电压输出电路内设有3.3VGPIO单元,所述第二电压输出电路内设有1.8VGPIO单元。

7.根据权利要求1至6任一项所述的eMMC芯片测试系统,其特征在于,所述eMMC测试系统执行通断电测试方法,所述方法包括:

S1,所述数据传输电路接收PC设备输入的测试启动指令和测试数据,并将所述测试启动指令和测试数据均发送至XU4主控芯片,所述XU4主控芯片将测试数据存入存储设备;

S2,根据所述测试启动指令,使电源模块向第一电源接口输出5V电源,所述第一电源接口输出5V电源通过第二电源接口输出至电压转换模块,所述电压转换模块对5V电源进行转换生成3.3V电源和1.8V电源,分别通过第一输出端和第二输出端将3.3V电源和1.8V电源输出至测试芯片电路,以向所述测试芯片电路中的eMMC芯片供电;

S3,所述XU4主控芯片从存储设备中调取测试数据通过第一信号传输接口输出至第二信号传输接口,所述第二信号传输接口将测试数据输出至测试芯片电路,所述测试芯片电路中的eMMC芯片进行与测试数据相关的测试后输出反馈数据,所述反馈数据通过第二信号传输接口和第一信号传输接口反馈至XU4主控芯片;

S4,所述XU4主控芯片采用预设的通断电规则对所述测试芯片电路进行通断电;

S5,判断反馈至所述XU4主控芯片的反馈数据与测试数据是否符合预设读写规则,形成测试结果;

S6,所述XU4主控芯片将测试结果通过数据传输电路输出显示于PC设备。

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