[发明专利]检测装置、检测方法及计算机可读存储介质

说明书

本发明公开一种检测装置、检测方法及计算机可读存储介质，所述检测装置包括光源组件、起偏器、分光棱镜、校准组件以及检测单元，所述校准组件包括相位延迟器与反射镜，所述相位延迟器设于所述反射镜靠近所述分光棱镜的一侧；所述光源组件发出的光线依次经所述起偏器以及所述分光棱镜后反射至所述校准组件，所述光线经过所述相位延迟器改变偏振方向，并经过所述反射镜反射后进入所述分光棱镜，并经所述分光棱镜透射后传输至所述检测单元。本发明提出一种检测装置、检测方法及计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中对显示组件进行测试时，测试装置结构复杂，测量过程繁琐的问题。

技术领域

本发明涉及光学检测技术领域，尤其涉及一种检测装置、检测方法及计算机可读存储介质。

背景技术

显示组件是投影设备中重要的零件之一，其中，成像芯片又是显示组件中重要的组成部分，成像芯片的质量好坏直接影响显示组件的成像质量，现有的成像芯片包括液晶附硅（Liquid Crystal on Silicon，LCOS）、有机发光二极管（Organic Light-EmittingDiode，OLED）、液晶芯片（Liquid Crystal Display ，LCD）、数字光处理芯片（DigitalLight Procession ，DLP）等多种类型，其中LCOS芯片具有高分辨率、高光效和低成本的优点。

投影设备在完成显示组件的组装时，需要对投影设备的成像芯片的成像性能进行测试，由于LCOS芯片的投影设备内部结构复杂，在对成像芯片进行测试时，需要配备多种配件以及对应的光路，从而造成检测装置结构复杂，检测过程繁琐的问题。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明提出一种检测装置、检测方法及计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中对显示组件进行测试时，测试装置结构复杂，测量过程繁琐的问题。

为实现上述目的，本发明提出了一种检测装置，所述检测装置包括光源组件、起偏器、分光棱镜、校准组件以及检测单元，所述校准组件包括相位延迟器与反射镜，所述相位延迟器设于所述反射镜靠近所述分光棱镜的一侧；所述光源组件发出的光线依次经所述起偏器以及所述分光棱镜后反射至所述校准组件，所述光线经过所述相位延迟器改变偏振方向，并经过所述反射镜反射后进入所述分光棱镜，并经所述分光棱镜透射后传输至所述检测单元。

可选的，所述检测装置还包括匀光元件，所述匀光元件设于所述光源组件与所述起偏器之间。

可选的，所述检测装置还包括检偏器，所述检偏器设于所述起偏器与所述分光棱镜之间。

可选的，所述检测装置还包括中性滤光片，所述中性滤光片设于所述分光棱镜与所述检测单元之间。

可选的，所述光源组件包括第一光源、第二光源、第三光源、第一二向色镜以及第二二向色镜，所述第一光源发出的光线依次经过所述第一二向色镜以及所述第二二向色镜后传输至所述起偏器，所述第二光源发出的光线经过所述第一二向色镜反射，并经过所述第二二向色镜透射后传输至所述起偏器，所述第三光源发出的光线经过所述第二二向色镜反射后传输至所述起偏器。

可选的，所述光源组件还包括第一准直镜组、第二准直镜组以及第三准直镜组，所述第一准直镜组设于所述第一光源与所述第一二向色镜之间，所述第二准直镜组设于所述第二光源与所述第一二向色镜之间，所述第三准直镜组设于所述第三光源与所述第二二向色镜之间。

可选的，所述检测装置还包括补偿片，所述补偿片设于所述分光棱镜与所述校准组件之间，所述补偿片的快轴方向与所述分光棱镜的透射偏振光的偏振方向相同或垂直。

为实现上述目的，本申请提出一种检测方法，应用于如上述任一项实施方式所述的检测装置，所述检测方法包括：

获取所述校准组件位于检测位置时，所述检测单元检测的第一亮度信息；