[发明专利]一种用于辐射制冷薄膜性能测试的装置

权利要求书

1.一种用于辐射制冷薄膜性能测试的装置，其特征在于：包括上端开口的隔热箱体（4），该开口端采用透明隔绝罩（2）密封，沿着箱体的纵向方向所述隔热箱体（4）的内部被分隔为位于上方的传导区（9）和位于下方的对流区（10）；还包括设置在箱体内部的承载板（8）和安装在承载板（8）下方的高度调节机构（7），所述高度调节机构（7）用于调节所述承载板（8）在箱体中的位置高度；在所述承载板（8）的上表面按矩形阵列分布的形式开设若干个薄膜槽（801），每个薄膜槽（801）的底部安装有热电偶探头（1），所述的热电偶探头（1）的信号输出端与数据记录仪（6）相连。

2.根据权利要求1所述的一种用于辐射制冷薄膜性能测试的装置，其特征在于：所述承载板（8）的厚度小于所述传导区（9）的厚度，测试时，所述承载板（8）通过高度调节机构（7）的调节在传导区（9）和对流区（10）之间上下移动。

3.根据权利要求2所述的一种用于辐射制冷薄膜性能测试的装置，其特征在于：所述承载板（8）的厚度为所述传导区（9）的厚度的1/3-1/2。

4.根据权利要求2所述的一种用于辐射制冷薄膜性能测试的装置，其特征在于：所述承载板（8）的尺寸与所述隔热箱体（4）内部的水平横截面的尺寸相同。

5.根据权利要求4所述的一种用于辐射制冷薄膜性能测试的装置，其特征在于：所述承载板（8）采用隔热材料制作。

6.根据权利要求1所述的一种用于辐射制冷薄膜性能测试的装置，其特征在于：所述隔热箱体（4）的侧板在对应对流区（10）的位置开设有通风孔（11），所述通风孔（11）设置在任一组相对的侧板上。

7.根据权利要求1所述的一种用于辐射制冷薄膜性能测试的装置，其特征在于：所述的高度调节机构（7）采用的若干个对称的布置在所述隔热箱体（4）底板上的伸缩杆，所述的伸缩杆同步移动。

8.根据权利要求1所述的一种用于辐射制冷薄膜性能测试的装置，其特征在于：所述热电偶探头（1）通过串行线（5）与数据记录仪（6）相连。

9.根据权利要求1所述的一种用于辐射制冷薄膜性能测试的装置，其特征在于：所述薄膜槽（801）的形状与所放置的待测试的薄膜的形状相匹配。