[发明专利]一种折射率可调谐薄膜结构及其制备方法在审
申请号: | 202010870803.8 | 申请日: | 2020-08-26 |
公开(公告)号: | CN111999912A | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
发明(设计)人: | 贺洪波;张宇晖;王胭脂;陈瑞溢;王志皓;朱晔新;晋云霞;朱美萍;邵宇川;易葵;邵建达 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G02F1/00 | 分类号: | G02F1/00;G02F1/015;G03F7/00 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 折射率 调谐 薄膜 结构 及其 制备 方法 | ||
本发明公开了一种折射率可调谐薄膜结构及其制备方法。通过在单层膜表面刻蚀周期性微结构形成折射率可调谐薄膜结构,其结构由下而上依次是致密膜层和周期性微结构膜层,致密膜层的折射率等于薄膜材料自身折射率,周期性微结构膜层的折射率与微结构参数相关。表面微结构相当于一个折射系数连续变化的介质层,介质层的等效折射系数小于薄膜材料折射率,通过调控介质层的等效折射率即可调控薄膜的整体折射率。制备方法包括:(1)基底表面镀制薄膜;(2)清洁膜面,在膜面上旋涂光刻胶;(3)采用双光束干涉对样品进行曝光;(4)显影得到所需的掩膜图样;(5)采用反应离子束刻蚀技术将掩膜图样转移至薄膜上;(6)清洁刻蚀产生的残留物。本发明通过调控薄膜中的纳米微结构高度、占空比来控制空气在薄膜中的占比,从而做到薄膜材料的折射率可调控。本发明具备极宽的折射率调控范围(从空气层折射率到薄膜材料自身折射率),且工艺简单,可重复强。
技术领域
本发明属于光学薄膜领域,尤其涉及到折射率可调谐的薄膜结构及其制备方法。
背景技术
光学薄膜技术经过两百多年的发展,已经成为现代生活、工业发展及前沿科学中的重要一环。光学薄膜从功能上可分为增透膜、高反膜、滤光片、分光膜等,从结构上又可分为均匀介质膜和非均匀介质膜。但是常规的光学薄膜材料都有其确定的折射率,无法灵活调控。面对现在日益复杂的应用环境,单一折射率的光学薄膜已经无法满足应用需求,比如基底表面的理想减反,只需要找个折射率等于根号下基底折射率与入射介质折射率乘积的材料即可,但是有限的材料种类并不能很好的满足所有应用场景的需求,进而需要使用高低折射率材料交替沉积组成的多层膜结构,但是多层膜结构复杂,设计难度大。溶胶凝胶法和倾斜沉积法是两种常规的制备折射率可调谐薄膜方法,其原理都是通过制备疏松多孔膜降低单层膜的折射率,但是这两种方法对折射率调谐的范围很有限,且折射率可控性差。
发明内容
针对上述现状的不足,本发明旨在提出一种折射率可调谐薄膜结构及制备方法,以便解决上述问题。
本发明解决的技术方案如下:
本发明提供一种折射率可调谐薄膜结构,通过在单层膜表面刻蚀周期性微结构形成折射率可调谐薄膜结构,该结构由下而上依次是致密膜层和周期性微结构膜层,致密膜层的折射率等于薄膜材料自身折射率,周期性微结构膜层的折射率与微结构参数相关。薄膜结构的折射率可在空气层折射率到薄膜材料折射率之间调节。
所述周期性微结构为圆柱形、圆锥形、抛物型、金字塔型。
所述微结构高度小于等于单层膜厚度。
所述微结构占空比选取范围大于0,小于等于1,其中D为所述周期性微结构边长,T为周期性微结构周期。
所述薄膜的折射率n=fna+(1-f)nc,其中f为空气所占体积比,nc和na分别代表薄膜材料折射率和空气层折射率。
进一步地,若周期性结构为金字塔形,薄膜折射率表示为若周期性结构为圆锥形,薄膜折射率表示为若周期性结构为抛物形,薄膜折射率表示为若周期性结构为圆柱形,薄膜折射率表示为其中τ为所述周期性结构的占空比,nc和na分别代表薄膜材料折射率和空气层折射率。
一种折射率可调谐薄膜制备方法,其特点在于,所述制备方法包括以下步骤:
步骤1):基底表面镀制单层膜;
步骤2):根据所需要的折射率,选择合适的薄膜材料,根据折射率计算公式,选择合适的微结构高度和占空比。
步骤3):清洁膜面,在膜面上旋涂光刻胶,光刻胶厚度略大于所需制备微结构的高度;
步骤4):采用双光束干涉对样品进行曝光;
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