[发明专利]一种基于称重的箔带横断面轮廓测量方法有效
| 申请号： | 202010871183.X | 申请日： | 2020-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN112122365B | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 何安瑞;于海军;刘超;邵健;王晓晨;孙文权 | 申请（专利权）人： | 北京科技大学 |
| 主分类号： | B21B38/02 | 分类号： | B21B38/02 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 称重 横断面 轮廓 测量方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于称重的箔带横断面轮廓测量方法，其特征在于：包括步骤如下：
(1)在箔带卷厚度稳定段沿着箔带长度方向截取需要测厚的箔带样片，尺寸为L*W，L为箔带样片在轧制方向的长度，W为箔带整幅宽度，对于宽幅箔带，有L＜W；
(2)采用具有固定尺寸矩形截面刀口的取样器沿着箔带样片宽度方向进行裁切，得到固定尺寸的箔带小条，其尺寸为l*w，l为取样器刀口长度，w为取样器刀口宽度，记录裁切得到的箔带小条所在位置距箔带样片操作侧边部的距离xn；
(3)采用高精度称重天平对箔带小条的质量进行逐个测量，并计算箔带小条的厚度hn；
(4)以箔带小条距箔带样片操作侧边部距离xn为横坐标，以箔带小条厚度hn为纵坐标，两者所组成的曲线便是箔带横断面轮廓曲线。
2.根据权利要求1所述的基于称重的箔带横断面轮廓测量方法，其特征在于：所述步骤(1)中箔带样片选取轧制前后箔带卷厚度稳定段的箔带，箔带样片沿着箔带轧制方向的长度L大于后期裁切箔带小条的取样器刀口的长度，即Ll。
3.根据权利要求1所述的基于称重的箔带横断面轮廓测量方法，其特征在于：所述步骤(2)中取样器裁切得到的箔带小条尺寸l*w由取样器决定，l方向与L相同，w方向与W相同。
4.根据权利要求1所述的基于称重的箔带横断面轮廓测量方法，其特征在于：所述步骤(2)和步骤(4)中操作侧改为传动侧代替。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京科技大学，未经北京科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010871183.X/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
