[发明专利]存储器设备的训练方法、电子设备和包括其的电子系统在审
申请号: | 202010883429.5 | 申请日: | 2020-08-28 |
公开(公告)号: | CN112447259A | 公开(公告)日: | 2021-03-05 |
发明(设计)人: | 朴章善;金钟运;李柱灿;殷亨来;金东;朴仁勋 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11C29/50 | 分类号: | G11C29/50;G11C7/22;G06F3/06 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邵亚丽 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储器 设备 训练 方法 电子设备 包括 电子 系统 | ||
一种电子设备,包括:存储器设备;非易失性存储器,被配置为存储分别与存储器设备的操作电压相对应的多个第一配置参数和分别与存储器设备的操作温度相对应的多个第二配置参数;以及存储器控制器,被配置为:确定存储在非易失性存储器中的多个第一配置参数之中的与存储器设备的操作电压相对应的第三配置参数的值,而不执行训练操作;确定存储在非易失性存储器中的多个第二配置参数之中的与存储器设备的操作温度相对应的第四配置参数的值,而不执行训练操作;以及根据确定的第三配置参数和第四配置参数的值驱动存储器设备。
相关申请的交叉引用
本申请要求于2019年8月30日向韩国知识产权局提交的韩国专利申请第10-2019-0107008号的优先权,其全部内容通过引用合并于此。
技术领域
本公开的示例实施例涉及一种存储器设备的训练方法、电子设备和包括该电子设备的电子系统。
背景技术
为了训练存储器和/或存储器控制器,随着操作速度增加,需要更详细的训练算法,并且随着存储区块(rank)增加,该更详细的训练算法具有更长的开放时间(opentime)。因此,不适合在需要短的开放时间的存储器系统中执行完整训练。在驱动电子设备时周期性地执行训练。为了执行存储器/存储器控制器训练,存储器系统必须停止当前运行的操作,这会影响系统的性能。
另外,在存储器设备的操作电压和操作温度频繁变化的环境中,存储器设备的操作电压和温度成为影响训练的因素。通过反映这种环境来进行训练,并且正在对可以立即反映出操作电压和温度频繁变化的环境的训练进行研究。
发明内容
本公开的一个或多个示例实施例提供了一种电子设备,其能够减少训练运行时间,也就是说,执行对包括在电子设备中的存储器设备的训练所花费的时间。
本公开的一个或多个示例实施例还提供一种能够减少训练运行时间的存储器设备的训练方法。
本公开的一个或多个示例实施例还提供一种能够减少训练运行时间的电子系统。
然而,本公开的各方面不限于本文阐述的那些。通过参考下面给出的本公开的详细描述,本公开的以上和其他方面对于本公开所属领域的普通技术人员而言将变得更加清晰。
根据本发明构思的示例实施例的一方面,提供一种电子设备,该电子设备包括:存储器设备;非易失性存储器,被配置为存储分别与存储器设备的操作电压相对应的多个第一配置参数和分别与存储器设备的操作温度相对应的多个第二配置参数;以及存储器控制器,被配置为:确定存储在非易失性存储器中的多个第一配置参数之中的与存储器设备的操作电压相对应的第三配置参数的值,而不执行训练操作;确定存储在非易失性存储器中的多个第二配置参数之中的与存储器设备的操作温度相对应的第四配置参数的值,而不执行训练操作;以及根据确定的第三配置参数和第四配置参数的值驱动存储器设备。
根据本发明构思的示例实施例的一方面,提供一种存储器设备的训练方法,该方法包括:在存储单元中存储与存储器设备的操作电压和操作温度相对应的多个第一配置参数;在存储多个第一配置参数之后,执行存储器设备的启动;测量被启动的存储器设备的操作电压和操作温度;将多个第一配置参数之中的与操作电压和操作温度相对应的第二配置参数加载到存储器控制器中;以及将加载的第二配置参数映射到存储器设备,而不执行训练操作。
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