[发明专利]基于局部放电多信息融合的GIS绝缘子缺陷识别方法及系统有效
申请号: | 202010885616.7 | 申请日: | 2020-08-28 |
公开(公告)号: | CN112014700B | 公开(公告)日: | 2022-04-01 |
发明(设计)人: | 张晓星;伍云健;胡国雄 | 申请(专利权)人: | 武汉大学 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12;G06K9/62 |
代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 郑勤振 |
地址: | 430072 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 局部 放电 信息 融合 gis 绝缘子 缺陷 识别 方法 系统 | ||
1.一种基于局部放电多信息融合的GIS绝缘子缺陷识别方法,其特征在于,包括:
根据绝缘子局部放电的特高频波形信号计算特高频的时域波形特征,根据绝缘子局部放电的超声波波形信号计算超声波的功率谱特征,根据绝缘子局部放电的特高频信号的幅值和相位构建放电信号的相位图谱,计算相位图谱的正负半周放电相位中心正负半周偏斜度SK+/-、陡峭度Ku+/-、正负半周互相关系数Cc和放电量因数Q,及灰度图像的0阶矩、2阶中心矩和3阶中心矩;
计算所述特高频的时域波形特征,所述超声波的功率谱特征,所述相位图谱的正负半周放电相位中心正负半周偏斜度SK+/-、陡峭度Ku+/-、正负半周互相关系数Cc和放电量因数Q,以及所述相位图谱的灰度图像的0阶矩、2阶中心矩和3阶中心矩,所构成的绝缘子缺陷的4种信息特征的信息增益,去除信息增益低于阈值的特征,剩下的作为各信息的有效特征;
基于栈式降噪自编码将各信息的有效特征压缩到一维,重新计算压缩后一维向量的信息增益,以压缩后的一维特征作为一个坐标,坐标权重取信息增益值,所有信息压缩后的一维特征共同构建一个新的4维空间;
以构建的4维空间为待分类样本,基于拉普拉斯中心性的密度聚类算法,将样本一一聚类,根据样本中心的缺陷类型确定其他所有样本的缺陷类型。
2.根据权利要求1所述的GIS绝缘子缺陷识别方法,其特征在于,特高频的时域波形特征包括波形的上升时间tr、下降时间tf、峰值时间tp脉冲宽度td、持续时间tc。
3.根据权利要求1所述的GIS绝缘子缺陷识别方法,其特征在于,超声波的功率谱特征包括最大峰值Upsdm、峰值频率Ufm、峰个数Upn、功率谱均值Upsdμ、方差Upsdσ、中值频率Upsdzh和平均频率Ufμ。
4.根据权利要求1所述的GIS绝缘子缺陷识别方法,其特征在于,构成绝缘子缺陷的4种信息特征的信息增益计算方法为:
计算采集数据自身的信息熵H(I),对于样本总数为M的特征I,样本类别有K类,每个类别的特征样本数量记为Xi,则分类系统的信息熵H(I):
计算引入这个特征后系统的信息熵,记特征I的取值区间为I1~I20,对于第i个区间Ii:样本数为Ki,三个类别具有的样本个数分别为K1i,K2i和K3i,则特征I的信息熵计算如所示:
计算特征的信息增益G(I):
G(I)=H(S)-H(I|S)。
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