[发明专利]一种跳频通信设备机内测试中的跳频频率的测试方法及测试装置

权利要求书

1.一种跳频通信设备的跳频频率的机内测试装置，其特征在于包括：

功率衰减模块，所述功率衰减模块的输入端接收跳频通信设备发射的跳频信号，所述功率衰减模块的一个输出端与阻抗变换模块的输入端连接，所述功率衰减模块的另一个输出端与射频整形模块的输入端连接；所述阻抗变换模块的输出端与输入保护模块的输入端连接，所述输入保护模块的输出端与功率检测模块的输入端连接，所述功率检测模块的输出端与放大整形模块的输入端连接，所述放大整形模块的输出端与跳频频率测试模块的一个输入端连接，所述射频整形模块的输出端与所述跳频频率测试模块的另一个输入端连接，频率基准模块的输出端与跳频频率测试模块的基准频率输入端连接，所述跳频频率测试模块与跳频通信设备的主控模块双向连接；

所述阻抗变换模块包括电阻R13，电阻R13的一端分为两路，第一路为所述阻抗变换模块的信号输入端，第二路与电阻R15的一端连接，所述电阻R13的另一端经电阻R14接地，所述电阻R15的另一端与电阻R16的一端连接，所述电阻R16的另一端分为两路，第一路为所述阻抗变换模块的输出端，第二路经电阻R17接地；

所述输入保护模块包括电阻R18，所述电阻R18的一端分为两路，分别为所述输入保护模块的输入端和输出端，所述电阻R18的另一端分为两路，第一路与二极管V1的负极连接，所述二极管V1的正极与二极管V2的负极连接，所述二极管V2的正极接地；第二路与二极管V3的正极连接，所述二极管V3的负极与二极管V4的正极连接，所述二极管V4的负极接地；

所述功率检测模块包括AD8361型功率检测器芯片N1，所述功率检测模块的输入端分为三路，第一路经电阻R19接地，第二路经电容C1与所述N1的3脚连接，第三路经电容C2与所述N1的3脚连接，所述N1的1脚与所述N1的2脚连接，所述N1的1脚分为四路，第一路经电容C3接N1的6脚，第二路经电容C7接地，第三路经电容C8接地，第四路经电感L1以及电容C9后接地，所述电感L1与电容C9的结点与+5V电源连接；所述N1的4脚、5脚以及8脚接地，所述N1的7脚分为两路，第一路经电阻R78接地，第二路为所述功率检测模块的输出端；

所述放大整形模块包括LM293型功率放大器N13A，所述放大整形模块的输入端经电容C145后分为两路，第一路经电阻R88与2.5V电源连接，第二路与所述N13A的同相输入端连接，所述N13A的反相输入端分为三路，第一路经电容C125接地，第二路经电容C171接地，第三路经电感L26与2.5V电源连接，电容C167的一端接地，电容C167的另一端与2.5V电源连接，所述N13A的8脚分为三路，第一路经电容C223接地，第二路接+5V电源，第三路依次经电阻R89、电阻R90后与74HC04型芯片D11的2脚连接，所述N13A的输出端与所述D11的1脚连接，所述D11的2脚与3脚连接，所述D11的5脚、7脚、9脚、11脚以及13脚接地，所述D11的14脚接+5V电源，所述D11的4脚为所述放大整形模块的输出端，所述D11的其它引脚悬空；

所述跳频频率测试模块包括FPGA和温补晶振，所述FPGA包括三个输入：一是被测跳频频率的输入；二是被测跳频频率的触发输入，通过对被测跳频频率的功率检测来获取触发输入；三是频率基准的输入，通过频率计获取频率基准输入，所述温补晶振用于为所述FPGA提供工作时钟。

2.如权利要求1所述的跳频通信设备的跳频频率的机内测试装置，其特征在于：

所述FPGA使用EP1K30T144-2型FPGA，温补晶振采用的是20MHz的高稳定度的时钟基准。

3.一种包括如权利要求1-2中任意一项所述机内测试装置的跳频通信设备，其特征在于还包括：

主控模块，所述主控模块的输出端与跳频发射机模块的输入端连接，所述跳频发射机模块的输出端与功率耦合模块的输入端连接，所述功率耦合模块的一个输出端与功率放大模块的输入端连接，所述功率放大模块的输出端与发射天线连接，所述功率耦合模块的另一个输出端与机内测试装置的输入端连接，所述机内测试装置与所述主控模块之间双向连接。