[发明专利]一种辐射发射RE测试设备以及测试方法有效
申请号: | 202010885754.5 | 申请日: | 2020-08-28 |
公开(公告)号: | CN111999567B | 公开(公告)日: | 2023-03-24 |
发明(设计)人: | 包嘉裕 | 申请(专利权)人: | 上海商米科技集团股份有限公司;广东川田科技有限公司 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08 |
代理公司: | 上海市汇业律师事务所 31325 | 代理人: | 金炜霞 |
地址: | 200433 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 辐射 发射 re 测试 设备 以及 方法 | ||
本发明实施例涉及一种辐射发射RE测试设备以及测试方法。所述设备包括:天线模块,其包括针对预设频段的多个天线;滤波模块,其包括用于将相应天线接收电磁波所得的电信号进行滤波的多个滤波器;开关模块,其依据将要检测的频段将与之电性连接的所述天线模块及滤波模块进行对应切换;放大模块,其将经滤波所得的电信号进行放大;A/D转换模块,其将经放大所得的电信号转换成数字信号;计算处理模块,其将数字信号的功率值转换成以dBuV为单位的接收点场强;以及输出模块,其用于判断由所述计算处理模块计算出的所述接收点场强是否大于RE测试标准场强值,并在是时输出RE测试通过,否则输出RE测试不通过。本发明实施例检测准确、设备轻巧、成本低。
技术领域
本发明实施例涉及辐射测试,具体涉及一种辐射发射RE测试设备以及测试方法。
背景技术
辐射发射(Radiated Emission;简称RE)测试是测量待测设备(EUT)通过空间传播的辐射骚扰场强。现有技术主要以专业认证实验室的探测天线配合频谱仪及暗室环境来实现RE测试,其造价昂贵,需要几百万的成本,占地面积较大,不适用于一般智能设备研发公司。
对于智能设备硬件研发公司来说,产品在国内外认证中碰到的RE相关问题经常困扰工程师。前期在产品设计和调试阶段,由于缺乏标准化测试设备,导致经常忽略RE的预测试,以至于当产品到达认证阶段,RE测试问题才在认证实验室暴露出来,这个时候需要花费大量时间和昂贵的实验室费用来整改,且经常因为整改困难导致需要改动设计方案,增加试产阶段,大大增加了研发成本,延误产品进度。
针对上述问题,本发明需要提供一种辐射发射RE测试设备以及测试方法,可以模拟认证实验室暗室测试、准确地探测出RE问题,并且成本低廉、操作便利。
发明内容
为了解决现有技术存在的问题,本发明的至少一个实施例提供了一种辐射发射RE测试设备以及测试方法。
第一方面,本发明实施例提出一种辐射发射RE测试设备,其包括:
天线模块,其包括针对预设频段的多个天线,所述多个天线各自具有对应的天线有效长度及阻抗;
滤波模块,其包括与所述多个天线相匹配的多个滤波器,所述多个滤波器分别用于将相应天线接收电磁波所得的电信号进行滤波;
开关模块,其与所述天线模块及滤波模块电性连接,用于将与所要检测的频段相对应的所述天线模块中的天线以及所述滤波模块中的滤波器切换成电性连接;
放大模块,其与所述滤波模块电性连接,用于将经所述滤波模块滤波所得的电信号进行放大;
A/D转换模块,其与所述放大模块电性连接,用于将经所述放大模块放大所得的电信号转换成数字信号;
计算处理模块,其用于根据所述A/D转换模块输出的数字信号得到数字信号的功率值,并根据相应天线的天线有效长度及阻抗将所述功率值转换成以dBuV为单位的接收点场强;以及
输出模块,其用于判断由所述计算处理模块计算出的所述接收点场强是否大于RE测试标准场强值,并在是时输出RE测试通过,否则输出RE测试不通过。
在一些实施例中,所述多个天线为1/4波长天线或者半波振子天线,所述预设频段位于30 MHz至6 GHz的范围内。
在一些实施例中,所述开关模块包括多路双向选择开关以及驱动单元,多路双向选择开关的一选择端可切换地与多个天线之一电性连接,其另一选择端可切换地与所述多个滤波器之一电性连接,所述驱动单元根据将要检测的频段驱动所述多路双向选择开关将所述天线模块及所述滤波模块切换到与所述频段相对应的天线及滤波器。
在一些实施例中,所述放大模块为增益可调的低噪声放大器,所述低噪声放大器通过调到不同的增益等级来适配不同的测试距离,所述测试距离为3米、5米、7米或10米。
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