[发明专利]旋转角度测量方法和旋转角度测量电路有效

专利信息
申请号: 202010886627.7 申请日: 2020-08-28
公开(公告)号: CN112444193B 公开(公告)日: 2022-06-28
发明(设计)人: M·C·迈尔;H·C·P·迪特曼 申请(专利权)人: TDK-迈克纳斯有限责任公司
主分类号: G01B7/30 分类号: G01B7/30
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 韩长永
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 旋转 角度 测量方法 测量 电路
【权利要求书】:

1.一种旋转角度测量方法,其中,

-提供旋转角度测量系统、第一传感器系统和第二传感器系统,所述旋转角度测量系统具有能够围绕旋转轴线旋转地支承的轴和产生或改变磁场的发送器,所述第一传感器系统具有第一类型的至少一个磁场传感器,所述第二传感器系统具有第二类型的至少一个磁场传感器,

-所述第一传感器系统检测第一磁场分量Bz,并且所述第二传感器系统检测第二磁场分量Bx和第三磁场分量By,其中,所述第一磁场分量、所述第二磁场分量和所述第三磁场分量分别彼此垂直地延伸,

-所述第一传感器系统的针对所述轴的一旋转角度所求取的每个旋转角度值相对于所述第二传感器系统的针对所述轴的同一旋转角度所求取的旋转角度值具有已知的恒定角度偏移(ΔΦ),

-在第一时间点t1,利用所述第一传感器系统求取至少一个第一测量值(S1),并且利用所述第二传感器系统求取至少一个第二测量值(T1),

-对于所述至少一个第一测量值(S1)确定第一旋转角度值(Φ1),并且对于所述至少一个第二测量值(T1)确定第二旋转角度值(Φ2),

-由所述第一旋转角度值(Φ1)和所述角度偏移(ΔΦ)确定第一输出旋转角度值(ΦA1)作为用于所述第二传感器系统的参考值,

-求取所述第二旋转角度值(Φ2)与所述第一输出旋转角度值(ΦA1)的偏差(D1),并且

-或者通过改变至少一个第二测量值(T2)和重新计算所述第二旋转角度值(Φ2)来最小化所述偏差(D1),并且将通过最小化所获得的新的第二旋转角度值(Φ2)或至少一个被改变的第二测量值(T2)作为最终输出值(ΦE)输出,

-或者将所述偏差(D1)与阈值进行比较并且将所述第一输出旋转角度值(ΦA1)作为最终输出值(ΦE)输出。

2.根据权利要求1所述的旋转角度测量方法,其特征在于,每个传感器系统分别具有相应类型的至少两个传感器。

3.根据权利要求1或2所述的旋转角度测量方法,其特征在于,所述旋转角度测量系统具有两个第一传感器系统和两个第二传感器系统。

4.根据权利要求1或2所述的旋转角度测量方法,其特征在于,所述第一磁场分量Bz与所述旋转轴线平行地延伸或与所述旋转轴线成至多1°或至多0.1°的角度延伸。

5.根据权利要求1或2所述的旋转角度测量方法,其特征在于,所述第一类型是霍尔传感器,并且所述第一传感器系统包括至少两个传感器。

6.根据权利要求1或2所述的旋转角度测量方法,其特征在于,所述第二类型是磁阻传感器。

7.根据权利要求1或2所述的旋转角度测量方法,其特征在于,通过在一个步骤或多个步骤中匹配所述第二旋转角度值(Φ2)来实现所述偏差(D1)的最小化。

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