[发明专利]一种热插拔测试方法、装置及设备

权利要求书

1.一种热插拔测试方法，其特征在于，应用于处理器，包括：

在上电状态下，控制与待测外接设备连接的通断电管理装置断开并导通，以实现所述待测外接设备的热拔插；

在所述通断电管理装置导通后判断所述待测外接设备是否异常；

若异常，则控制提示器提示所述待测外接设备异常；

若不异常，则将实际测试轮数加一并判断所述实际测试轮数是否达到预设测试轮数；

若未达到，则执行所述在上电状态下，控制与待测外接设备连接的通断电管理装置断开并导通的步骤；

若达到则结束测试。

2.根据权利要求1所述的热插拔测试方法，其特征在于，所述在上电状态下，控制与待测外接设备连接的通断电管理装置断开并导通具体为：

控制所述待测外接设备运行预先确定出的随机任务并确定出随机运行时长；

在所述随机运行时长后，在上电状态下，控制与待测外接设备连接的通断电管理装置断开；

在上电状态下，控制所述通断电管理装置导通。

3.根据权利要求2所述的热插拔测试方法，其特征在于，所述在所述随机运行时长后，在上电状态下，控制与待测外接设备连接的通断电管理装置断开之后，所述在上电状态下，控制所述通断电管理装置导通之前，该热插拔测试方法还包括：

确定出随机等待时长；

则所述在上电状态下，控制所述通断电管理装置导通具体为：

在所述随机等待时长之后，在上电状态下，控制所述通断电管理装置导通。

4.根据权利要求3所述的热插拔测试方法，其特征在于，该热插拔测试方法还包括：

预先确定出所述待测外接设备的标准字段检测数据；

则所述在所述随机运行时长后，在上电状态下，控制与待测外接设备连接的通断电管理装置断开具体为：

在所述随机运行时长后，确定出所述待测外接设备的当前字段检测数据并判断所述当前字段检测数据是否与所述标准字段检测数据一致；

若一致，则在上电状态下，控制与待测外接设备连接的通断电管理装置断开；

则所述在所述通断电管理装置导通后判断所述待测外接设备是否异常具体为：

在所述通断电管理装置导通后判断所述待测外接设备是否能够被识别；

若能够被识别，则确定出所述待测外接设备的当前字段检测数据；

若无法被识别，则判定所述待测外接设备处于不可被识别的异常状态；

判断所述当前字段检测数据是否与所述标准字段检测数据一致；

若不一致，则判定所述待测外接设备处于字段检测数据异常的异常状态。

5.根据权利要求1所述的热插拔测试方法，其特征在于，所述在所述通断电管理装置导通后判断所述待测外接设备是否异常之后，该热插拔测试方法还包括：

控制存储器记录所述待测外接设备的异常。

6.根据权利要求1所述的热插拔测试方法，其特征在于，所述待测外接设备有多个。

7.根据权利要求1所述的热插拔测试方法，其特征在于，所述待测外接设备为固态硬盘SSD。

8.根据权利要求1至7任一项所述的热插拔测试方法，其特征在于，所述通断电管理装置为Quarch设备。

9.一种热插拔测试装置，其特征在于，应用于处理器，包括：

第一控制模块，用于在上电状态下，控制与待测外接设备连接的通断电管理装置断开并导通，以实现所述待测外接设备的热拔插；

第一判断模块，用于在所述通断电管理装置导通后判断所述待测外接设备是否异常，若异常，则触发第二控制模块，若不异常，则触发第二判断模块；

所述第二控制模块，用于控制提示器提示所述待测外接设备异常；

所述第二判断模块，用于将实际测试轮数加一并判断所述实际测试轮数是否达到预设测试轮数，若未达到，则触发所述第一控制模块，若达到则触发结束模块；

所述结束模块，用于结束测试。

10.一种热插拔测试设备，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至8任一项所述热插拔测试方法的步骤。