[发明专利]一种大面积高耐用性超疏水表面结构的制备方法及其产品有效

专利信息
申请号: 202010899353.5 申请日: 2020-08-31
公开(公告)号: CN112028010B 公开(公告)日: 2023-08-25
发明(设计)人: 史铁林;林建斌;廖广兰;李小平;孔令贤;罗京;段暕 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: B81B7/04 分类号: B81B7/04;B81C1/00
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 石梦雅;李智
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 大面积 耐用性 疏水 表面 结构 制备 方法 及其 产品
【权利要求书】:

1.一种大面积高耐用性超疏水表面结构的制备方法,其特征在于,该制备方法包括如下步骤:

S1在基底表面制备预设图形,然后在该具有预设图形的基底表面制备刻蚀掩膜层;

S2对具有刻蚀掩膜层的基底进行刻蚀,进而在该基底上制得倒锥形阵列;

S3对步骤S2制得的倒锥形阵列进行纳米压印,以此制得锥形掩膜,然后对该锥形掩膜进行一次倒模,获得倒锥形阵列结构;

S4在所述倒锥形阵列结构的表面构建耐磨层,获得倒锥形模板,利用疏水聚合物对该倒锥形模板进行二次倒模,制得锥形阵列结构;

S5对所述锥形阵列结构的表面进行研磨,以得到锥台阵列结构,进而制得所述大面积高耐用性超疏水表面结构。

2.如权利要求1所述的大面积高耐用性超疏水表面结构的制备方法,其特征在于,步骤S1中,采用光刻的方式在基底表面制备预设图形。

3.如权利要求1所述的大面积高耐用性超疏水表面结构的制备方法,其特征在于,步骤S1中,制备刻蚀掩膜层的过程为:采用溅射或蒸发的方式进行保护层沉积,然后利用剥离液进行剥离,从而得到图形化的刻蚀掩膜层。

4.如权利要求1所述的大面积高耐用性超疏水表面结构的制备方法,其特征在于,步骤S1中,所述基底的材料为硅,所述刻蚀掩膜层的材料为铬。

5.如权利要求1所述的大面积高耐用性超疏水表面结构的制备方法,其特征在于,步骤S2中,采用湿法刻蚀的方式对无刻蚀掩膜层的区域进行刻蚀,得到倒锥形阵列。

6.如权利要求1所述的大面积高耐用性超疏水表面结构的制备方法,其特征在于,步骤S4中,构建耐磨层的过程为:采用沉积方式构建耐磨种子层,然后利用电铸方式制备耐磨层。

7.如权利要求1所述的大面积高耐用性超疏水表面结构的制备方法,其特征在于,步骤S4中,所述耐磨层的材料为铬。

8.如权利要求1所述的大面积高耐用性超疏水表面结构的制备方法,其特征在于,步骤S5中,采用研磨机或砂纸进行研磨。

9.如权利要求1~8任一项所述的大面积高耐用性超疏水表面结构的制备方法,其特征在于,步骤S5中,研磨过程中磨削厚度为锥体高度的1/10~1/2。

10.一种利用如权利要求1~9任一项所述方法制备的大面积高耐用性超疏水表面结构。

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