[发明专利]一种累积法泄露检测方法和系统

说明书

本申请实施例公开了一种累积法泄露检测方法和系统，该方法包括：获取待检测件上的多个待检测位置；获取所述多个待检测位置的第一泄露值；根据所述第一泄露值，基于累积法，确定用于表征所述待检测件在静止状态下的第一泄露值变化曲线的至少一个第一参数值；获取所述多个待检测位置的第二泄露值；根据所述第二泄露值，基于累积法，确定用于表征所述待检测件在工作状态下的第二泄露值变化曲线的至少一个第二参数值；基于所述至少一个第一参数值和至少一个第二参数值，确定所述待测物体的至少一个泄露检测性能。该累积法泄露检测方法和系统能够对气密性泄漏检测功能的扩展，提高常规检测精度与效率，为客户节约时间成本与劳动力成本。

技术领域

本申请涉及工程技术领域，特别涉及累积法泄露检测方法和系统。

背景技术

目前市场上涉及的密封性检测的仪器与设备基本属于两级分化状态，常规与低端密封检测仪器与设备通常只能检测大于1.0×10-2Pa.m3/s的泄漏，而高端检漏仪，比如氦质谱检漏仪，由于自身设备成本与使用成本都很高，常用于检测小于1.0×10-7Pa.m3/s的泄漏，现在市场上缺少一款低成本并且能够检测1.0×10-2Pa.m3/s至1.0×10-7Pa.m3/s之间泄漏的仪器或设备。

因此，现希望提供一种累积法泄露检测方法和系统。

发明内容

本申请实施例之一提供一种累积法泄露检测方法和系统，所述方法包括：

获取待检测件上的多个待检测位置；获取所述多个待检测位置的第一泄露值；根据所述第一泄露值，基于累积法，确定用于表征所述待检测件在静止状态下的第一泄露值变化曲线的至少一个第一参数值；获取所述多个待检测位置的第二泄露值；根据所述第二泄露值，基于累积法，确定用于表征所述待检测件在工作状态下的第二泄露值变化曲线的至少一个第二参数值；基于所述至少一个第一参数值和至少一个第二参数值，确定所述待测物体的至少一个泄露检测性能。

在一些实施例中，所述第一参数值包括泄露值参数β₀、时间参数β₁和随机参数ε₁。

在一些实施例中，所述第二参数值包括泄露值参数β₃、时间参数β₂和随机参数ε₂。

在一些实施例中，所述第二参数的拟合过程采用求取最小残差平方和的方法。

本公开还提供一种累积法泄露检测系统，包括第一获取模块、第二获取模块、第一参数确定模块、第三获取模块、第二参数确定模块和性能确定模块：第一获取模块，用于获取待检测件上的多个待检测位置；第二获取模块，用于获取所述多个待检测位置的第一泄露值；第一参数确定模块，用于根据所述第一泄露值，基于累积法，确定用于表征所述待检测件在静止状态下的第一泄露值变化曲线的至少一个第一参数值；第三获取模块，用于获取所述多个待检测位置的第二泄露值；第二参数确定模块，用于根据所述第二泄露值，基于累积法，确定用于表征所述待检测件在工作状态下的第二泄露值变化曲线的至少一个第二参数值；计算模块，用于基于所述至少一个第一参数值和至少一个第二参数值，确定所述待测物体的至少一个泄露检测性能。

本申请实施例之一提供一种累积法泄露检测装置，包括处理器，所述处理器用于执行累积法泄露检测的方法。

本申请实施例之一提供一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储计算机指令，当计算机读取存储介质中的计算机指令后，计算机执行累积法泄露检测的方法。

附图说明

本申请将以示例性实施例的方式进一步说明，这些示例性实施例将通过附图进行详细描述。这些实施例并非限制性的，在这些实施例中，相同的编号表示相同的结构，其中：

图1是根据本申请一些实施例所示的累积法泄露检测系统的应用场景示意图；