[发明专利]绕射识别成像方法、装置、电子设备及介质在审
申请号: | 202010903403.2 | 申请日: | 2020-09-01 |
公开(公告)号: | CN114114420A | 公开(公告)日: | 2022-03-01 |
发明(设计)人: | 谢飞;朱成宏;徐蔚亚;魏哲枫;高鸿 | 申请(专利权)人: | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 |
主分类号: | G01V1/36 | 分类号: | G01V1/36 |
代理公司: | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人: | 孙向民;廉莉莉 |
地址: | 100027 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 识别 成像 方法 装置 电子设备 介质 | ||
1.一种绕射识别成像方法,其特征在于,包括:
根据震源信号和共炮点数据,获得共成像点倾角道集;
针对所述共成像点倾角道集进行叠加,获得偏移成像叠加剖面,记录间断散射点与反射点的坐标位置;
确定绕射能量向量标签与反射能量向量标签,建立标签样本库;
将所述共成像点倾角道集中的每一个成像点识别振幅向量,根据所述标签样本库通过KNN算法,确定每一个成像点的标签;
将标签为绕射标签的成像点的倾角道集进行叠加,获得绕射波成像结果。
2.根据权利要求1所述的绕射识别成像方法,其中,记录间断散射点与反射点的坐标位置包括:
在所述偏移成像叠加剖面中识别多个间断散射点与反射点,记录坐标位置。
3.根据权利要求2所述的绕射识别成像方法,其中,所述间断散射点与所述反射点的数量相同。
4.根据权利要求1所述的绕射识别成像方法,其中,确定绕射能量向量标签与反射能量向量标签包括:
根据间断散射点与反射点的坐标位置,识别每一个间断散射点或反射点的振幅向量,
其中,将间断散射点的振幅向量定义为绕射能量向量标签,将反射点的振幅向量定义为反射能量向量标签。
5.根据权利要求1所述的绕射识别成像方法,其中,根据所述标签样本库通过KNN算法,确定每一个成像点的标签包括:
分别计算每一个振幅向量与所述标签样本库中所有标签的欧氏距离,将距离最近的标签赋值给该振幅向量对应的成像点。
6.一种绕射识别成像装置,其特征在于,包括:
道集建立模块,根据震源信号和共炮点数据,获得共成像点倾角道集;
记录模块,针对所述共成像点倾角道集进行叠加,获得偏移成像叠加剖面,记录间断散射点与反射点的坐标位置;
样本库建立模块,确定绕射能量向量标签与反射能量向量标签,建立标签样本库;
计算模块,将所述共成像点倾角道集中的每一个成像点识别振幅向量,根据所述标签样本库通过KNN算法,确定每一个成像点的标签;
叠加模块,将标签为绕射标签的成像点的倾角道集进行叠加,获得绕射波成像结果。
7.根据权利要求6所述的绕射识别成像装置,其中,确定绕射能量向量标签与反射能量向量标签包括:
根据间断散射点与反射点的坐标位置,识别每一个间断散射点或反射点的振幅向量,
其中,将间断散射点的振幅向量定义为绕射能量向量标签,将反射点的振幅向量定义为反射能量向量标签。
8.根据权利要求6所述的绕射识别成像装置,其中,根据所述标签样本库通过KNN算法,确定每一个成像点的标签包括:
分别计算每一个振幅向量与所述标签样本库中所有标签的欧氏距离,将距离最近的标签赋值给该振幅向量对应的成像点。
9.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:
存储器,存储有可执行指令;
处理器,所述处理器运行所述存储器中的所述可执行指令,以实现权利要求1-5中任一项所述的绕射识别成像方法。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,该计算机可读存储介质存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-5中任一项所述的绕射识别成像方法。
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