[发明专利]绕射识别成像方法、装置、电子设备及介质

权利要求书

1.一种绕射识别成像方法，其特征在于，包括：

根据震源信号和共炮点数据，获得共成像点倾角道集；

针对所述共成像点倾角道集进行叠加，获得偏移成像叠加剖面，记录间断散射点与反射点的坐标位置；

确定绕射能量向量标签与反射能量向量标签，建立标签样本库；

将所述共成像点倾角道集中的每一个成像点识别振幅向量，根据所述标签样本库通过KNN算法，确定每一个成像点的标签；

将标签为绕射标签的成像点的倾角道集进行叠加，获得绕射波成像结果。

2.根据权利要求1所述的绕射识别成像方法，其中，记录间断散射点与反射点的坐标位置包括：

在所述偏移成像叠加剖面中识别多个间断散射点与反射点，记录坐标位置。

3.根据权利要求2所述的绕射识别成像方法，其中，所述间断散射点与所述反射点的数量相同。

4.根据权利要求1所述的绕射识别成像方法，其中，确定绕射能量向量标签与反射能量向量标签包括：

根据间断散射点与反射点的坐标位置，识别每一个间断散射点或反射点的振幅向量，

其中，将间断散射点的振幅向量定义为绕射能量向量标签，将反射点的振幅向量定义为反射能量向量标签。

5.根据权利要求1所述的绕射识别成像方法，其中，根据所述标签样本库通过KNN算法，确定每一个成像点的标签包括：

分别计算每一个振幅向量与所述标签样本库中所有标签的欧氏距离，将距离最近的标签赋值给该振幅向量对应的成像点。

6.一种绕射识别成像装置，其特征在于，包括：

道集建立模块，根据震源信号和共炮点数据，获得共成像点倾角道集；

记录模块，针对所述共成像点倾角道集进行叠加，获得偏移成像叠加剖面，记录间断散射点与反射点的坐标位置；

样本库建立模块，确定绕射能量向量标签与反射能量向量标签，建立标签样本库；

计算模块，将所述共成像点倾角道集中的每一个成像点识别振幅向量，根据所述标签样本库通过KNN算法，确定每一个成像点的标签；

叠加模块，将标签为绕射标签的成像点的倾角道集进行叠加，获得绕射波成像结果。

7.根据权利要求6所述的绕射识别成像装置，其中，确定绕射能量向量标签与反射能量向量标签包括：

根据间断散射点与反射点的坐标位置，识别每一个间断散射点或反射点的振幅向量，

其中，将间断散射点的振幅向量定义为绕射能量向量标签，将反射点的振幅向量定义为反射能量向量标签。

8.根据权利要求6所述的绕射识别成像装置，其中，根据所述标签样本库通过KNN算法，确定每一个成像点的标签包括：

分别计算每一个振幅向量与所述标签样本库中所有标签的欧氏距离，将距离最近的标签赋值给该振幅向量对应的成像点。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

存储器，存储有可执行指令；

处理器，所述处理器运行所述存储器中的所述可执行指令，以实现权利要求1-5中任一项所述的绕射识别成像方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，该计算机可读存储介质存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-5中任一项所述的绕射识别成像方法。