[发明专利]射频前端模块测试机校准方法和装置

说明书

本发明提供了射频前端模块测试机校准方法和装置，该方法包括：确定信号源和信号源射频线的第一功率损耗值、辅衰减器的第二功率损耗值、耦合器和芯片输入端射频线的第三功率损耗值以及芯片输出端射频线和衰减器的第四功率损耗值；确定在不同频率和功率组合的射频信号下功放器、耦合器、耦合端射频线和耦合端的第五功率损耗值、分析仪和分析仪射频线的第六功率损耗值以及反射端和反射端射频线的第七功率损耗值；根据第一功率损耗值至第七功率损耗值，对射频前端模块测试机的测试结果进行修正。本方案能够提高射频前端模块测试机测试结果的准确性。

技术领域

本发明涉及测试技术领域，特别涉及射频前端模块测试机校准方法和装置。

背景技术

在进行芯片自动化测试时，由于射频信号在测试系统的各个部件之间传输中存在例如射频线损耗、仪器的非线性反射以及射频信号的反射等损耗，导致测试结果不准确，因此，对射频前端模块测试机的校准是非常有必要的。

测试设备的系统根据各个部件建立的等效电路模型中是否含有电源（电压源或者电流源）主要分为有源仪器和无源部件，通常无源部件对射频信号的功率影响不大，几乎可以忽略。目前，测试机校准没有相关的校准规范，一般由生产厂家校准，或者作为通用设备进行校准，并未针对每一个可能存在损耗的部件进行校准，从而导致校准参数不全面，因此，使得测试机的测试结果不准确。

发明内容

本发明提供了射频前端模块测试机校准方法和装置，能够提高射频前端模块测试机测试结果的准确性。

第一方面，本发明实施例提供了射频前端模块测试机校准方法，用于对包括有信号源、耦合端、反射端、分析仪、功放器、耦合器、衰减器、信号源射频线、耦合端射频线、反射端射频线、芯片输入端射频线、芯片输出端射频线和分析仪射频线的所述射频前端模块测试机进行校准，包括：

在分别将所述信号源、所述信号源射频线、所述耦合器、所述芯片输入端射频线、芯片输出端射频线、所述衰减器和辅衰减器中的至少两个与功率计依次相连接后，根据所述信号源输入端射频信号的功率和所述功率计所检测到射频信号的功率，确定所述信号源和所述信号源射频线的第一功率损耗值、所述辅衰减器的第二功率损耗值、所述耦合器和所述芯片输入端射频线的第三功率损耗值以及所述芯片输出端射频线和所述衰减器的第四功率损耗值；

在将动态校准部件组合分别与所述功率计、所述分析仪射频线和所述分析仪以及所述反射端射频线和所述反射端相连接，并从所述信号源输入具有不同频率和功率组合的射频信号后，根据所述信号源输入端射频信号的功率以及所述耦合端、所述反射端、所述分析仪和所述功率计所检测到射频信号的功率，确定在不同频率和功率组合的射频信号下所述功放器、所述耦合器、所述耦合端射频线和所述耦合端的第五功率损耗值、所述分析仪和所述分析仪射频线的第六功率损耗值以及所述反射端和所述反射端射频线的第七功率损耗值，其中，所述动态校准部件组合中所述信号源、所述信号源射频线、所述功放器、所述耦合器、所述芯片输出射频线和所述辅衰减器依次相连，且所述耦合端通过所述耦合端射频线与所述耦合器相连接；

根据所述第一功率损耗值至所述第七功率损耗值，对所述射频前端模块测试机的测试结果进行修正。

在一种可能的设计中，根据待测试芯片的功率增益和所述衰减器的功率衰减，确定所述辅衰减器的功率衰减。

在一种可能的设计中，确定所述信号源和所述信号源射频线的第一功率损耗值，包括：

在将所述信号源、所述信号源射频线和所述功率计依次相连接后，根据如下公式(1)计算所述信号源和所述信号源射频线的第一功率损耗值：

(1)

其中，ΔW₁用于表征所述信号源和所述信号源射频线的第一功率损耗值，W_SG用于表征所述信号源输入端射频信号的功率，W_PM用于表征所述功率计所检测到射频信号的功率。