[发明专利]粗糙度测试仪在审
申请号: | 202010906081.7 | 申请日: | 2020-09-01 |
公开(公告)号: | CN112461120A | 公开(公告)日: | 2021-03-09 |
发明(设计)人: | 和泉直树 | 申请(专利权)人: | 株式会社三丰 |
主分类号: | G01B7/34 | 分类号: | G01B7/34 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 粗糙 测试仪 | ||
1.一种粗糙度测试仪,其包括:
驱动单元,其包括以利用马达的驱动力在预定的驱动轴线方向上前后移动的方式设置的可动件构件;
触针单元,其包括触针和触针位移检测单元,所述触针以从滑动部的通孔突出和缩回到通孔中的方式设置并且被构造为沿着工件的表面进行扫描运动,所述触针位移检测单元被构造为检测所述触针的位移;
联接装置,其用于在所述触针从所述滑动部的通孔突出的方向为第一方向且与所述驱动轴线方向正交的预定轴线为测量轴线时使所述触针单元与所述可动件构件在所述第一方向与所述测量轴线基本上平行的状态下联接;
施力装置,其用于在所述第一方向上对所述触针单元施力;
主体容纳部,其容纳所述驱动单元和所述触针单元,并允许所述触针单元从前端面突出以与所述驱动轴线方向平行地前后移动;以及
高度检测器,其以面向所述主体容纳部的前端面且使所述滑动部介于所述高度检测器与所述前端面之间的方式设置,并且被构造为检测物体在与所述测量轴线平行的方向上的高度,其中,
所述主体容纳部具有位于所述主体容纳部的第一方向上的基面,
所述基面设置有在测量中要与所述工件的表面接触的主体支撑脚,并且
所述驱动单元被构造为在所述高度检测器检测到在所述测量轴线方向上所述物体的高度与所述主体支撑脚的高度相同时自动开始驱动,从而使所述触针单元对所述工件的表面进行扫描测量。
2.根据权利要求1所述的粗糙度测试仪,其特征在于,所述粗糙度测试仪还包括联接杆,所述联接杆与所述驱动轴线方向平行地从所述主体容纳部延伸,其中,
所述高度检测器附接到所述联接杆的末端。
3.根据权利要求1所述的粗糙度测试仪,其特征在于,所述高度检测器包括要与所述工件接触的检测器支撑脚,在所述测量轴线方向上所述检测器支撑脚的高度与所述主体支撑脚的高度相同。
4.一种包括权利要求3所述的粗糙度测试仪的粗糙度测试仪单元,所述粗糙度测试仪安装于具有平坦顶面的输送台,其中,所述粗糙度测试仪单元包括多个所述粗糙度测试仪。
5.根据权利要求4所述的粗糙度测试仪单元,其特征在于,
所述多个粗糙度测试仪以各基面面向上的方式安装于所述输送台,并且
所述粗糙度测试仪被构造为在所述工件以跨在所述高度检测器和所述主体支撑脚上的方式放置时自动开始测量,从而使所述触针单元对所述工件的表面进行扫描测量。
6.一种粗糙度测试仪,其包括:
驱动单元,其包括以利用马达的驱动力在预定的驱动轴线方向上前后移动的方式设置的可动件构件;
触针单元,其包括触针和触针位移检测单元,所述触针以从滑动部的通孔突出和缩回到通孔中的方式设置并且被构造为沿着工件的表面进行扫描运动,所述触针位移检测单元被构造为检测所述触针的位移;
联接装置,其用于在所述触针从所述滑动部的通孔突出的方向为第一方向且与所述驱动轴线方向正交的预定轴线为测量轴线时使所述触针单元与所述可动件构件在所述第一方向与所述测量轴线基本上平行的状态下联接;
施力装置,其用于在所述第一方向上对所述触针单元施力;
主体容纳部,其容纳所述驱动单元和所述触针单元,并允许所述触针单元从前端面突出以与所述驱动轴线方向平行地前后移动;以及
高度检测器,其被构造为检测物体在与所述测量轴线平行的方向上的高度,其中,
所述驱动单元被构造为当所述高度检测器检测到在所述触针与所述工件的表面垂直地接触时所述触针单元的姿势时自动开始驱动,从而使所述触针单元对所述工件的表面进行扫描测量。
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