[发明专利]基于p型掺杂的六方氮化硼外延薄膜制备方法在审
申请号: | 202010909268.2 | 申请日: | 2020-09-02 |
公开(公告)号: | CN111986987A | 公开(公告)日: | 2020-11-24 |
发明(设计)人: | 周小伟;岳文凯;李培咸;吴金星;王燕丽;许晟瑞;马晓华;郝跃 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L31/0304;H01L31/101;H01L33/32 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;黎汉华 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 掺杂 氮化 外延 薄膜 制备 方法 | ||
1.一种基于p型掺杂的六方氮化硼外延薄膜制备方法,其特征在于,包括如下:
(1)外延生长h-BN薄膜:
1a)对衬底依次通过丙酮、去离子水、稀盐酸清洗;
1b)将清洗后的衬底放入CVD设备的石英管中心,加热至800-1000℃进行衬底退火处理;
1c)将CVD设备中的氨硼烷前驱体加热至130-150℃,在10sccm氩气和10sccm氢气的混合载气作用下,将加热完成后的前驱体引入CVD设备石英管中,再将其温度升高至1200-1550℃,在退火完成的衬底上进行六方氮化硼生长;
1d)将在同样生长环境下得到的每2片六方氮化硼外延片面对面重叠,放入高温退火炉中在900-1800℃,氮气氛围下进行2.5-3.5h退火处理,并在0.5-1h内急速降温至室温,得到多组晶体取向高度一致的六方氮化硼薄膜;
(2)对六方氮化硼薄膜进行p型掺杂:
2a)将每组2片的h-BN薄膜分开,正面朝上置于离子注入装置中,并将反应腔真空度降低至1×10-5Torr;
2b)将六方氮化硼薄膜样品加热至340-550℃,设Mg离子注入能量为30-80keV,注射剂量保持5×1017,将注射方向与样品法线方向稳定在8-10°的夹角,完成对多组六方氮化硼薄膜样品的热靶离子注入;
2c)将每组完成离子注入的2片六方氮化硼薄膜样品面对面重新重叠,再置于400-800℃氮气氛围下快速退火5-10min,完成p型掺杂六方氮化硼外延薄膜的制作。
2.根据权利要求1所述的方法,其中1a)中的衬底采用蓝宝石,碳化硅,氮化铝,铂衬底和聚酰亚胺PI中的一种。
3.根据权利要求1所述的方法,其中1d)中将在同样生长环境下得到的每2片六方氮化硼外延片面对面重叠,是将每组上下两个六方氮化硼外延片的正面,即六方氮化硼生长面贴合,并保持每组上下两个六方氮化硼外延片晶体朝向一致。
4.根据权利要求1所述的方法,其中2c)中将每组完成离子注入的2片六方氮化硼薄膜样品面对面重新重叠,是将每组上下两个离子注入后的六方氮化硼外延片的正面贴合,并保持每组上下两个六方氮化硼外延片晶体朝向一致。
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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