[发明专利]电磁勘探方法及装置有效
申请号: | 202010909504.0 | 申请日: | 2020-09-02 |
公开(公告)号: | CN114200526B | 公开(公告)日: | 2023-08-22 |
发明(设计)人: | 肖阳;陈清礼;唐传章;王泽丹;王鑫;姜梦奇;叶玮;高园;熊峰;王攀;叶秋焱 | 申请(专利权)人: | 中国石油天然气股份有限公司 |
主分类号: | G01V3/08 | 分类号: | G01V3/08;G01V3/38 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 李珂珂 |
地址: | 100007 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 电磁 勘探 方法 装置 | ||
1.一种电磁勘探方法,其特征在于,所述方法包括:
获取每个测点对应的波场电动势集合,所述波场电动势集合包括不同时刻在每个测点采集到的多个电动势;
确定每个测点与成像点之间的距离;
根据每个测点与所述成像点之间的距离及每个测点的波场电动势集合,确定每个测点在所述成像点的波场值;
将各个测点在所述成像点的波场值进行叠加,得到所述成像点的总波场值;
根据所述成像点的总波场值,进行电磁勘探;
所述根据每个测点与所述成像点之间的距离及每个测点的波场电动势集合,确定每个测点在所述成像点的波场值,包括:
计算指定时刻与采集时间间隔的比值,得到所述指定时刻对应的采集编号;
基于所述采集编号,从所述电动势集合中,获取目标电动势;
根据目标电动势及每个测点与所述成像点之间的距离,确定每个测点在所述成像点的波场值;
所述根据目标电动势及每个测点与所述成像点之间的距离,确定每个测点在所述成像点的波场值,包括:
对于任一测点,如果所述测点的目标电动势为感应电动势,则将所述目标电动势和所述测点与所述成像点之间的距离的乘积,作为所述测点在所述成像点的波场值;
所述根据所述成像点的总波场值,进行电磁勘探,包括:
根据所述成像点的位置坐标和所述成像点的总波场值,将总波场值相同的成像点相连,得到波场值剖面图;
基于波场值剖面图进行电磁勘探。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定每个测点与成像点之间的距离,包括:
获取电磁信号从每个测点到所述成像点的往返时间;
获取所述电磁信号的传播速度;
根据所述往返时间和所述传播速度,确定每个测点与所述成像点之间的距离。
3.一种电磁勘探装置,其特征在于,所述装置包括:
获取模块,用于获取每个测点对应的波场电动势集合,所述波场电动势集合包括不同时刻在每个测点采集到的多个电动势;
第一确定模块,用于确定每个测点与成像点之间的距离;
第二确定模块,用于根据每个测点与所述成像点之间的距离及每个测点的波场电动势集合,确定每个测点在所述成像点的波场值;
叠加模块,用于将各个测点在所述成像点的波场值进行叠加,得到所述成像点的总波场值;
勘探模块,用于根据所述成像点的总波场值,进行电磁勘探;
所述第二确定模块,还用于计算指定时刻与采集时间间隔的比值,得到所述指定时刻对应的采集编号;基于所述采集编号,从所述电动势集合中,获取目标电动势;根据目标电动势及每个测点与所述成像点之间的距离,确定每个测点在所述成像点的波场值;
所述第二确定模块,还用于对于任一测点,如果所述测点的目标电动势为感应电动势,则将所述目标电动势和所述测点与所述成像点之间的距离的乘积,作为所述测点在所述成像点的波场值;
所述勘探模块,还用于根据所述成像点的位置坐标和所述成像点的总波场值,将总波场值相同的成像点相连,得到波场值剖面图;基于波场值剖面图进行电磁勘探。
4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述第一确定模块,用于获取电磁信号从每个测点到所述成像点的往返时间;获取所述电磁信号的传播速度;根据所述往返时间和所述传播速度,确定每个测点与所述成像点之间的距离。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国石油天然气股份有限公司,未经中国石油天然气股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010909504.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:防抖模组、摄像模组和电子设备
- 下一篇:转静子单元体的存放架及存放方法