[发明专利]电子电路板的多结点波形预存储故障检测方法

权利要求书

1.一种电子电路板的多结点波形预存储故障检测方法，其特征在于，包括由测试探针(1)、测试装置(2)和控制终端(3)组成检测装置，所述检测装置(2)中测试探针(1)和测试装置(2)电连接，所述测试装置(2)和控制终端(3)电连接；其中，

所述检测方法包括：

将测试探针(1)与预设标准板连接，获取多个电路结点的电压信号；

通过所述测试装置(2)将所述预设标准板的电压信号转化为标准测试数据，并存储于控制终端(3)中，生成标准曲线图；其中，

所述标准测试数据至少包括测试装置(2)控制参数和预设标准板的基准结点信息；

将测试探针(1)与被检电路板(5)连接，根据所述测试装置(2)控制参数，获取一个或多个电路结点的电压信号；

通过所述测试装置(2)将所述被检电路板(5)的电压信号转化为检测数据，并存储于控制终端(3)中，生成运行曲线图；其中，

所述检测数据至少包括测试装置(2)控制参数和被检测电路板的检测结点信息；

通过所述基准结点信息和检测结点信息，在所述控制终端(3)中确定对应结点的标准曲线图和运行曲线图；

计算所述标准曲线图和运行曲线图重合程度，判断所述被检电路板(5)是否故障；

所述计算所述标准曲线图和运行曲线图重合程度，判断所述被检电路板(5)是否故障，包括以下步骤：

步骤1：根据所述标准曲线图和运行曲线图，分别确定所述预设标准板的坐标集合Q(x_k,y_k)和所述被检电路板的坐标集合E(a_k,b_k)：

Q＝{(x₁,y₁)，(x₂,y₂)，(x₃,y₃)……(x_k,y_k)}；

E＝{(a₁,b₁)，(a₂,b₂)，(a₃,b₃)……(a_k,b_k)}；

其中，所述x_k表示标准曲线图第k个坐标点的横坐标；所述y_k表示标准曲线图第k个坐标点的纵坐标；所述a_k表示标准曲线图第k个坐标点的横坐标；所述b_k表示标准曲线图第k个坐标点的纵坐标；

步骤2：根据所述预设标准板的坐标集合和被检电路板(5)的坐标集合，确定所述标准曲线图和运行曲线图上坐标差异模型QE：

其中，所述σ_k表示所述标准曲线图和运行曲线图的协方差矩阵均值；所述ρ对比的坐标点的数量；

步骤3：根据所述预设标准板的坐标集合和被检电路板(5)的坐标集合，确定所述标准曲线图和运行曲线图的重合程度H：

其中，所述F表示预设的阈值，当所述H≥1时，表示两个结点重合程度高，对应的检测结点没有故障；当所述H＜1时，表示两个结点重合程度低，对应的检测结点没有故障。

2.根据权利要求1所述的一种电子电路板的多结点波形预存储故障检测方法，其特征在于：

所述测试探针(1)包括绝缘外壳和吸附针尖；其中，

所述绝缘外壳内部设置有柔性采集电路板和多路选择器；其中，

所述柔性采集电路板为多层电路板；

所述柔性采集电路板至少包括两个导电层，所述两个导电层之间设置有绝缘层；其中，

所述导电层包括同材料导电层和异材料导电层；

所述多层电路板中每个导电层与所述多路选择器的一个输入端电连接；

所述吸附针尖由复合导电材料组成硬质吸附针尖，所述吸附针尖的表面涂敷有导电涂层。