[发明专利]一种轴承打滑率测试用装置及使用该装置的测试系统

说明书

本发明涉及一种轴承打滑率测试用装置及使用该装置的测试系统，轴承打滑率测试用装置包括：测试座、预紧螺母、轴承座、端盖、无刷电机内定子、无刷电机外转子、霍尔传感器和测试窗；测试座前侧凸出布置有支撑轴；预紧螺母用于旋装在支撑轴前侧，以将待测轴承的内圈预紧固定在支撑轴上；轴承座具有轴承座孔，端盖固定在轴承座的端部，以使待测轴承固定装配在轴承座内；无刷电机内定子具有定子连接部和定子中心孔，定子连接部与测试座固定装配；无刷电机外转子具有转子连接部和转子中心孔，转子连接部与轴承座固定装配；测试窗用于暴露待测轴承的保持架相应端面的标记，以供外置的摄像机拍摄，上述测试用装置具有测量精度高，通用性好的优点。

技术领域

本发明涉及一种轴承打滑率测试用装置及使用该装置的测试系统。

背景技术

轴承保持架打滑时会影响轴承正常运转，造成轴承振动噪音增大、摩擦功耗升高，甚至导致轴承精度的丧失和失效，因此，确定保持架的打滑率大小对轴承的合理使用至关重要。目前轴承打滑率的测量方法，一般都是基于滚动体公转转速等于保持架转速的假设理论，使用传感器测量滚动体公转转速，代替保持架转速。

如申请公布号为CN110514443A的发明专利申请中公开的保持架打滑率测量方法，该测量方法是基于弱磁探测传感器探头实现的，通过磁探测传感器探头采集滚动体和轴承的内圈产生的混合磁场信息，得到滚动体的实际转速，滚动体的实际转速代替保持架转速。一方面，由于保持架结构兜孔引导间隙的存在，测量结果有一定误差，另一方面，该测量方法只能适用于保持架导磁率为零，外圈、内圈和滚动体均由金属材料制成的轴承，适用范围较窄、通用性差。

发明内容

本发明的目的在于提供一种轴承打滑率测试用装置，以解决现有技术中轴承打滑率测试用装置存在的测量误差大、通用性差的技术问题；本发明的目的还在于提供一种解决上述问题的轴承打滑率测试系统。

为实现上述目的，本发明轴承打滑率测试用装置的技术方案是：

轴承打滑率测试用装置包括：

测试座，测试座前侧凸出布置有支撑轴，支撑轴沿前后方向延伸，支撑轴用于适配待测轴承的内圈；

预紧螺母，用于旋装在支撑轴前侧，以将待测轴承的内圈预紧固定在支撑轴上；

轴承座组件，包括轴承座和端盖，轴承座具有轴承座孔，轴承座孔用于适配待测轴承的外圈，端盖固定在轴承座的端部，以使待测轴承固定装配在所述轴承座内；

无刷电机内定子，具有定子连接部和定子中心孔，定子连接部与测试座固定装配，以使支撑轴位于定子 中心孔内；

无刷电机外转子，具有转子连接部和转子中心孔，在轴承座通过待测轴承转动套装在支撑轴上时，转子连接部与轴承座固定装配，以使无刷电机内定子位于转子中心孔内，进而使得无刷电机内定子和无刷电机外转子配合使用；

霍尔传感器，用于检测无刷电机外转子的转速；

测试窗，设置在所述轴承座组件上，用于暴露待测轴承的保持架相应端面的标记，以供外置的摄像机拍摄。

本发明的有益效果是：通过霍尔传感器测得无刷电机外转子的转速，待测轴承的外圈转速等于无刷电机外转子的转速，由待测轴承的外圈转速及待测轴承的相关参数，可以计算得到保持架的理论转速；待测轴承转动时，通过摄像机拍摄保持架相应端面标记的位置，能得到保持架的实际转速，最终通过计算得到保持架的打滑率。一方面，由于保持架的转速是通过直接测量保持架得到的，与现有技术中相比，其测量精度更高；另一方面，测试时只需在保持架的端面做标记，通过检测标记的位置得到保持架的转速，与现有技术相比，本发明的测试用装置使用范围更广，通用性好。此外，无刷电机内定子和无刷电机外转子通过待测轴承装配在一起，并通过待测轴承支撑无刷电机外转子，使得装配有待测轴承的测试用装置整体形成无刷电机，整体结构简单，测试时运行稳定性好，有利于提高测试精度。