[发明专利]一种测光设备及测光方法

说明书

本发明公开了一种测光设备及测光方法，其中测光设备包括机架；连接在机架上的装夹机构，装夹机构包括支撑块和转动连接在支撑块上的夹具，夹具用于装夹工件，支撑块铰接机架，支撑块与机架的铰接轴沿支撑块的长度方向，夹具的转动轴垂直于支撑块的长度方向。利用支撑块和夹具两者的转动轴相互垂直的特点，使夹具上的工件测试角度可在两轴调整，其中工件指的是摄像头，即摄像头可以从不同的角度采集图像，方便对摄像头的杂散光进行检测，使检测得到的数据多。支撑块与机架的铰接轴沿左右方向设置，夹具的转动轴垂直于支撑块的上端面。

技术领域

本发明涉及检测设备技术领域，特别涉及一种测光设备及测光方法。

背景技术

透镜或光学系统存在杂散光，光学系统是指由透镜、反射镜、棱镜和光圈等多种光学元件按一定次序组合成的系统，通常用来成像或做光学信息处理，而杂散光是由透镜元件和透镜内镜之间的反射引起的，杂散光的存在，会造成画面灰雾等不利效果，影响成像效果。对透镜或光学系统的杂散光进行测试，根据测试得到的数据，评定该透镜或光学系统的性能。

目前在测试透镜或光学系统的杂散光性能并不便利。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种测光设备，方便对杂散光进行检测。

本发明还提出一种测光方法。

根据本发明的第一方面实施例的一种测光设备，包括机架；连接在所述机架上的装夹机构，所述装夹机构包括支撑块和转动连接在所述支撑块上的夹具，所述夹具用于装夹工件，所述支撑块铰接所述机架，所述支撑块与所述机架的铰接轴沿所述支撑块的长度方向，所述夹具的转动轴垂直于所述支撑块的长度方向。

根据本发明实施例的一种测光设备，至少具有如下有益效果：利用所述支撑块和所述夹具两者的转动轴相互垂直的特点，使所述夹具上的工件测试角度可在两轴调整，其中工件指的是摄像头，即摄像头可以从不同的角度采集图像，方便对摄像头的杂散光进行检测，使检测得到的数据多。

根据本发明的一些实施例，所述支撑块为凵形，凵形的所述支撑块包括两个侧板和设置在两个所述侧板之间的底板，所述夹具转动连接所述底板，所述侧板与所述机架铰接，凵形的所述支撑块的所述底板可以支撑所述夹具，所述夹具的转动轴垂直于所述底板，凵形的所述支撑块因为其重心偏离铰接轴，使得所述夹具上的工件在采集图像时不会被所述底板挡住，方便实用。

根据本发明的一些实施例，所述支撑块上设置有支架，所述支架设置有放置区，所述放置区用于放置测试头，所述测试头用于驱动工件采集图像，所述支架的下端转动连接所述底板，所述支架的上端连接所述夹具，设置所述支架方便将所述测试头和所述夹具装载为一体，减小占据空间。

根据本发明的一些实施例，所述支撑块设置有限位块，所述机架上设置有与所述限位块对应的挡块，所述挡块用于抵挡所述限位块，所述限位块和所述挡块相配合，防止所述支撑块转动过度。

根据本发明的一些实施例，还包括光源装置，所述光源装置包括发光件及设置在所述发光件下方的光圈组件，所述发光件用于发光，所述光圈组件用于调节工件接收到的光照强度，利用所述光圈组件来调节所述发光件发出的光照强度，从而使工件接收不同的光照强度，即使摄像头采集不同光照强度下的发光件的光照图像。

根据本发明的一些实施例，所述发光件和所述光圈组件均是通过导向杆滑动连接所述机架，所述导向杆可以防止所述发光件和所述光圈组件偏离竖向的运动轴线，使所述发光件和工件始终保持在竖向对齐，方便工件采集发光件的图像，测试杂散光。

根据本发明的一些实施例，所述发光件和所述光圈组件连接有升降机构，所述升降机构用于驱动所述发光件和所述光圈组件在竖向移动，利用所述升降机构使所述发光件和所述光圈组件能够在竖向升降，结构简单，使用方便。