[发明专利]电子元件测试自动密封装置在审
申请号: | 202010914084.5 | 申请日: | 2020-09-03 |
公开(公告)号: | CN112197797A | 公开(公告)日: | 2021-01-08 |
发明(设计)人: | 胡冲;鲍军其;刘治震;戴雅萍;张磊 | 申请(专利权)人: | 杭州长川科技股份有限公司 |
主分类号: | G01D11/24 | 分类号: | G01D11/24 |
代理公司: | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人: | 赵洁修 |
地址: | 310051 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子元件 测试 自动 密封 装置 | ||
1.一种电子元件测试自动密封装置,其特征在于,所述电子元件测试自动密封装置包括:
箱体,具有测试腔,所述箱体的顶部设有安装口,所述箱体的底部设有敞开口;
作业器,设于所述箱体的安装口,并与所述箱体滑动连接,具有对电子元件执行预设作业的作业部;
开合门,设于所述箱体的敞开口,包括第一开合门、转向件及第二开合门,所述第二开合门通过所述转向件转动连接所述第一开合门;及
驱动机构,设于所述作业器的侧部,连接于所述第一开合门,驱动所述第一开合门靠近所述安装口运动,使所述开合门竖向设于所述测试腔;或,驱动所述开合门遮蔽于所述敞开口。
2.根据权利要求1所述的电子元件测试自动密封装置,其特征在于,所述箱体对应设有导向部,所述开合门滑动地连接于所述导向部。
3.根据权利要求2所述的电子元件测试自动密封装置,其特征在于,所述导向部设有滑槽,所述滑槽为L字形,所述开合门滑动地设于所述滑槽;
或者,所述导向部设有导轨,所述导轨为L字形,所述开合门滑动地连接于所述导轨。
4.根据权利要求1所述的电子元件测试自动密封装置,其特征在于,所述开合门及驱动机构均设有两个,两个所述开合门可移动地设于所述敞开口;所述驱动机构相对设于所述作业器的两侧,所述驱动机构与所述开合门对应设置。
5.根据权利要求1所述的电子元件测试自动密封装置,其特征在于,所述驱动机构还包括动力件、转接机构及执行机构,所述动力件的输出轴通过所述转接机构与所述执行机构相连,所述执行机构与所述开合门相连。
6.根据权利要求5所述的电子元件测试自动密封装置,其特征在于,所述动力件的非动力输出部分内嵌于所述箱体的侧壁。
7.根据权利要求6所述的电子元件测试自动密封装置,其特征在于,所述动力件为气缸,所述箱体的侧壁设有安装空间,所述气缸的缸体设于所述安装空间。
8.根据权利要求1所述的电子元件测试自动密封装置,其特征在于,所述电子元件测试自动密封装置还包括连接件及导向件,所述导向件设于所述箱体外,所述连接件连接于所述作业器,并与所述导向件滑动连接。
9.根据权利要求1至8任一项所述的电子元件测试自动密封装置,其特征在于,所述箱体设有干燥气孔,所述干燥气孔设有多个,多个所述干燥气孔相对设于所述箱体的侧壁。
10.根据权利要求1至8任一项所述的电子元件测试自动密封装置,其特征在于,所述电子元件测试自动密封装置还包括加热部件,所述加热部件设于所述箱体。
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