[发明专利]电子元件测试自动密封装置在审

专利信息
申请号: 202010914084.5 申请日: 2020-09-03
公开(公告)号: CN112197797A 公开(公告)日: 2021-01-08
发明(设计)人: 胡冲;鲍军其;刘治震;戴雅萍;张磊 申请(专利权)人: 杭州长川科技股份有限公司
主分类号: G01D11/24 分类号: G01D11/24
代理公司: 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 代理人: 赵洁修
地址: 310051 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 电子元件 测试 自动 密封 装置
【权利要求书】:

1.一种电子元件测试自动密封装置,其特征在于,所述电子元件测试自动密封装置包括:

箱体,具有测试腔,所述箱体的顶部设有安装口,所述箱体的底部设有敞开口;

作业器,设于所述箱体的安装口,并与所述箱体滑动连接,具有对电子元件执行预设作业的作业部;

开合门,设于所述箱体的敞开口,包括第一开合门、转向件及第二开合门,所述第二开合门通过所述转向件转动连接所述第一开合门;及

驱动机构,设于所述作业器的侧部,连接于所述第一开合门,驱动所述第一开合门靠近所述安装口运动,使所述开合门竖向设于所述测试腔;或,驱动所述开合门遮蔽于所述敞开口。

2.根据权利要求1所述的电子元件测试自动密封装置,其特征在于,所述箱体对应设有导向部,所述开合门滑动地连接于所述导向部。

3.根据权利要求2所述的电子元件测试自动密封装置,其特征在于,所述导向部设有滑槽,所述滑槽为L字形,所述开合门滑动地设于所述滑槽;

或者,所述导向部设有导轨,所述导轨为L字形,所述开合门滑动地连接于所述导轨。

4.根据权利要求1所述的电子元件测试自动密封装置,其特征在于,所述开合门及驱动机构均设有两个,两个所述开合门可移动地设于所述敞开口;所述驱动机构相对设于所述作业器的两侧,所述驱动机构与所述开合门对应设置。

5.根据权利要求1所述的电子元件测试自动密封装置,其特征在于,所述驱动机构还包括动力件、转接机构及执行机构,所述动力件的输出轴通过所述转接机构与所述执行机构相连,所述执行机构与所述开合门相连。

6.根据权利要求5所述的电子元件测试自动密封装置,其特征在于,所述动力件的非动力输出部分内嵌于所述箱体的侧壁。

7.根据权利要求6所述的电子元件测试自动密封装置,其特征在于,所述动力件为气缸,所述箱体的侧壁设有安装空间,所述气缸的缸体设于所述安装空间。

8.根据权利要求1所述的电子元件测试自动密封装置,其特征在于,所述电子元件测试自动密封装置还包括连接件及导向件,所述导向件设于所述箱体外,所述连接件连接于所述作业器,并与所述导向件滑动连接。

9.根据权利要求1至8任一项所述的电子元件测试自动密封装置,其特征在于,所述箱体设有干燥气孔,所述干燥气孔设有多个,多个所述干燥气孔相对设于所述箱体的侧壁。

10.根据权利要求1至8任一项所述的电子元件测试自动密封装置,其特征在于,所述电子元件测试自动密封装置还包括加热部件,所述加热部件设于所述箱体。

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