[发明专利]一种距离测量方法、系统及设备在审
申请号: | 202010914316.7 | 申请日: | 2020-09-03 |
公开(公告)号: | CN112255635A | 公开(公告)日: | 2021-01-22 |
发明(设计)人: | 金宇;梅小露 | 申请(专利权)人: | 奥诚信息科技(上海)有限公司 |
主分类号: | G01S17/10 | 分类号: | G01S17/10;G01S7/4865 |
代理公司: | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人: | 叶思 |
地址: | 200120 上海市浦东新区自由*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 距离 测量方法 系统 设备 | ||
1.一种距离测量方法,其特征在于,应用于处理设备,所述方法包括:
获取光子发射信号以及光子反射信号;
根据所述光子发射信号和所述光子反射信号获取光子从发射到接收的飞行时间,并根据所述飞行时间生成目标直方图;所述目标直方图的横坐标为所述飞行时间,所述目标直方图的纵坐标表示光子计数值;
获取所述目标直方图中的上升沿位置;
获取所述上升沿位置对应的时间信息,根据所述时间信息计算待测量目标的距离信息。
2.如权利要求1所述的距离测量方法,其特征在于,所述获取所述目标直方图中的上升沿位置,包括:
根据所述目标直方图确定接收波形,并根据所述接收波形构建拟合函数曲线;
获取所述拟合函数曲线中满足预设斜率值条件的目标点,根据所述目标点确定上升沿位置。
3.如权利要求1所述的距离测量方法,其特征在于,所述获取所述目标直方图中的上升沿位置,包括:
获取所述目标直方图中相邻的两个时间间隔内的光子计数值的差值;
根据所述差值确定上升沿位置。
4.如权利要求1所述的距离测量方法,其特征在于,所述获取所述目标直方图中的上升沿位置,包括:
构建所述目标直方图对应的累加和函数;
获取所述累加和函数中的跳变点;
根据所述跳变点的位置确定上升沿位置。
5.如权利要求1所述的距离测量方法,其特征在于,所述根据所述光子发射信号和所述光子反射信号获取光子从发射到接收的飞行时间,并根据所述飞行时间生成目标直方图,包括:
根据所述光子发射信号和所述光子反射信号获取光子从发射到接收的飞行时间,并根据所述飞行时间生成初始直方图;
对所述初始直方图进行矫正得到目标直方图。
6.如权利要求5所述的距离测量方法,其特征在于,所述对所述初始直方图进行矫正得到目标直方图,包括:
根据所述初始直方图生成矫正函数;
根据所述矫正函数的反函数对所述初始直方图进行矫正得到目标直方图。
7.如权利要求1所述的距离测量方法,其特征在于,所述根据所述光子发射信号和所述光子反射信号生成目标直方图,包括:
根据所述光子发射信号和所述反射信号确定光子从发射到采集的飞行时间信息;
根据所述飞行时间信息确定时间码,并且根据所述时间码生成目标直方图。
8.一种距离测量系统,其特征在于,包括:发射器、采集器以及处理设备;
所述发射器用于接收到由所述处理设备发送的发射指令后产生光子发射信号并向待测量目标发射脉冲光束;
所述采集器用于采集所述待测量目标反射的脉冲光束中的光子并生成光子反射信号;所述采集器中包括像素阵列;
所述处理设备用于获取所述光子发射信号以及所述待测目标对应的所述光子反射信号;根据所述光子发射信号以及所述光子反射信号获取光子从发射到接收的飞行时间,并根据所述飞行时间生成目标直方图;所述目标直方图的横坐标为所述飞行时间,所述目标直方图的纵坐标表示光子计数值;获取所述目标直方图中的上升沿位置;获取所述上升沿位置对应的时间信息,根据所述时间信息计算所述待测量目标的距离信息。
9.一种距离测量设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的方法。
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