[发明专利]待测器件的自动测试系统

权利要求书

1.一种待测器件的自动测试系统，其特征在于，包括：

待测板，所述待测板用于放置待测器件；

测试仪表，所述测试仪表用于测量待测器件的状态数据；

MCU开关控制板，所述MCU开关控制板分别与所述待测板和所述测试仪表相连，用于根据内置的待测PIN对所述待测器件进行检测；以及

计算机，所述计算机分别与所述测试仪表和所述MCU开关控制板相连，用于控制所述MCU开关控制板中待测PIN的切换和所述测试仪表的切换，并从所述测试仪表中获取所述状态数据，并将所述状态数据与预设数据比较后输出测试结果。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述MCU开关控制板包括：继电器；

所述计算机具体用于：根据所述待测器件的类型，控制所述继电器开关切换所述待测PIN。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测试仪表包括：数字电桥、电压源表、电流源表中的任意一种或者多种的集合。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述状态数据包括：IV曲线、阻容感关键参数中的任意一种或者多种的集合。

5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述计算机通过USB与所述MCU开关控制板相连。

6.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述待测器件为无源器件和为无源器件PN特性器件。

7.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述计算机，包括：

显示模块，所述显示模块通过人机交互式界面显示所述测试结果。

8.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述计算机，还包括：

语音模块，所述语音模块通过语音提示操作指令、测试结果、告警或提示错误。