[发明专利]一种MEMS麦克风测试分选一体设备

说明书

本发明公开了一种MEMS麦克风测试分选一体设备，包括Wafer供料系统、移载系统和测试系统，所述Wafer供料系统包括升降仓、推环组件、提篮和Wafer，且升降仓顶部连接有推环组件，所述推环组件表面连接有提篮，且提篮顶部安装有Wafer，所述移载系统设置于Wafer供料系统的上方，所述移载系统包括台板、X轴模组、Y轴模组、Wafer台、顶针组件、中转载具、入料手臂和左右移载轴。该MEMS麦克风测试分选一体设备通过同时设置Wafer供料系统、测试系统和包装系统达到了对产品的检测和包装，从而解决了现有技术中MEMS麦克风测试环节设备占地面积大、设备成本高、工艺流转风险高的问题，Wafer供料系统的方式，避免了市场上散料入料或Tray中转的方式，减少了MEMS麦克风的供给风险和成本。

技术领域

本发明涉及MEMS麦克风测试技术领域，具体为一种MEMS麦克风测试分选一体设备。

背景技术

随着工业制造2025、人工智能的不断发展，以及竞争日趋激烈的市场环境。稳定、可靠、成本低的MEMS麦克风测试分选一体设备的开发越来越需要。

现有的MEMS麦克风测试环节设备多由移载设备、测试设备、包装设备三类组成，占地面积大、设备成本高、工艺流转风险高，不能满足现代化工厂对生产成本控制和质量要求的需要，针对上述情况，我们推出了一种MEMS麦克风测试分选一体设备。

发明内容

本发明的目的在于提供一种MEMS麦克风测试分选一体设备，以解决上述背景技术中提出一般的MEMS麦克风测试环节设备多由移载设备、测试设备、包装设备三类组成，占地面积大、设备成本高、工艺流转风险高，不能满足现代化工厂对生产成本控制和质量要求的需要的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种MEMS麦克风测试分选一体设备，包括Wafer供料系统、移载系统和测试系统，所述Wafer供料系统包括升降仓、推环组件、提篮和Wafer，且升降仓顶部连接有推环组件，所述推环组件表面连接有提篮，且提篮顶部安装有Wafer，所述移载系统设置于Wafer供料系统的上方，所述移载系统包括台板、X轴模组、Y轴模组、Wafer台、顶针组件、中转载具、入料手臂和左右移载轴，且台板顶部安装有X轴模组，所述X轴模组表面设置有Y轴模组，且Y轴模组顶部连接有Wafer台，所述Wafer台表面设置有顶针组件，且顶针组件一侧安装有中转载具，所述Wafer台顶部设置有入料手臂，且入料手臂一端连接有左右移载轴，所述测试系统设置于移载系统左侧，所述测试系统包括底部框架、测试声卡、测试台板、测试板、测试调节板、测试声腔、测试治具、测试针座和下压模组，且底部框架内部安装有测试声卡，所述底部框架顶部连接有测试台板，且底部框架顶部安装有测试板，所述测试台板顶部连接有测试调节板，且测试调节板上方设置有测试声腔，所述测试声腔表面设置有测试治具，且测试治具上方安装有测试针座，所述测试治具顶部连接有下压模组，所述测试系统底部设置有产品中转系统，且产品中转系统下方设置有料盒分选系统，所述料盒分选系统左侧连接有卷带包装系统，所述卷带包装系统包括轨道、视觉检测组件、限位组件、切刀组件、载带和盖带组件，且轨道上方设置有视觉检测组件，所述轨道表面安装有限位组件，且限位组件左侧设置有切刀组件，所述轨道内部连接有载带，且载带上方设置有盖带组件，所述Wafer供料系统、移载系统、测试系统、产品中转系统、料盒分选系统与卷带包装系统的外部均设置有机箱组件，所述机箱组件包括机箱和防护罩，且机箱顶部安装有防护罩。

优选的，所述推环组件通过升降仓与提篮之间构成升降结构，且推环组件与升降仓之间相互贴合。

优选的，所述X轴模组与Y轴模组关于台板的中轴线呈对称分布，且X轴模组与Y轴模组之间呈垂直分布。

优选的，所述入料手臂通过左右移载轴与Wafer台之间构成滑动结构，且入料手臂与Wafer台之间呈活动连接。

优选的，所述测试声卡通过测试台板与底部框架之间构成固定结构，且测试声卡外口尺寸与底部框架的内口尺寸相吻合。