[发明专利]一种断路器非全相功能测试装置

说明书

本发明公开了一种断路器非全相功能测试装置，其包括电源模块、告警模块、输出模块、微处理单元MCU、显示模块、测试按钮和时间模块。所述电源模块、告警模块、输出模块、显示模块、测试按钮和时间模块分别和微处理单元MCU连接，所述测试按钮用于驱动所述微处理单元MCU开始任务。本发明用于驱动所述微处理单元MCU开始任务。使用本发明装置解决了以往需要有三个人配合操作完成的检验工作，可以一个人独立完成，大大提高了工作效率。

技术领域

本发明属于继电保护技术领域，具体地说，涉及一种断路器非全相功能测试装置。

背景技术

目前，继电保护专业在进行断路器的基建验收与检修预试工作中，断路器非全相功能测试是必不可少的一项检验内容。

工作人员沿用传统方法进行检验，工作至少需要三人配合完成。一人在汇控柜或端子箱处进行非全相压板投退及开关分合，一人监护，同时需要另外一人在保护屏前检查操作箱指示位置和录波信号查看。传统非全相测试中需要的人数较多，危险性较大，工作安全性与准确性得不到保证。非全相功能总共需要测试十二个断路器辅助节点，动作次数较多，且容易遗漏。

传统方法中，需要三人配合完成，需要的人数多，配合难度大，时间较长，多次试验对断路器造成损坏。一旦短接跳、合闸回路即出口，无法对其接线正确性进行核对，容易造成两组控制回路互相短路、直流接地，同时该方法需要多次手动合闸，大大增加了断路器动作次数，影响断路器寿命。断路器非全相功能测试失误会造成事故的发生：投入非全相功能压板时，断路器直接跳闸，导致线路误跳；操作人员在非全相试验时，误将控制回路Ⅰ与控制回路Ⅱ短接，造成相当于两组控制回路均接地的情况，最终导致母线保护误动，误跳母线。

发明内容

本发明旨在提供一种安全、简易、测试精确的断路器非全相功能测试装置。

为了实现上述目的，本发明采取的技术方案如下：

其包括电源模块、告警模块、输出模块、微处理单元MCU、显示模块、测试按钮和时间模块。

进一步地，所述电源模块分别与所述告警模块、输出模块、微处理单元MCU、显示模块、测试按钮和时间模块电连接。

进一步地，所述电源模块将交流220V变为两路电源隔离输出，一路经过BG400整流和滤波后经过DC-DC转换为5V稳压输出VCC1，分别给微处理单元MCU、显示模块、测试按钮、时间模块和告警模块供电；另一路经过整流器整流，再经过滤波后由LM7812线性稳压电源提供12V的VCC2给输出模块。

进一步地，所述告警模块的输入端与所述微处理单元MCU电连接；

所述告警模块用于监视所述VCC1内部电源电位与微处理单元MCU的逻辑情况，在被测断路器接地线未接好及发生故障时发出报警信号。

也就是，所述告警模块接收监视所述VCC1内部电源电位信号以及接收微处理单元MCU发出的被测断路器接地线未接好和/或发生故障信号后，发生故障时发出报警信号。

进一步地，所述输出模块的输入端与所述微处理单元MCU电连接；所述输出模块的输出端连接有独立的出口继电器；

所述微处理单元MCU用于控制所述出口继电器的启停以及控制出口继电器的启停时间；所述微处理单元MCU采用单片机作为微处理器。

进一步地，所述显示模块的输入端与所述微处理单元MCU电连接，所述显示模块，采用LED显示，用于指示被测断路器合闸启动后至非全相动作的时间。

进一步地，所述时间模块中用于发出的计时信号的输出端与所述微处理单元MCU电连接，用于将计时信号传输给所述微处理单元MCU。

进一步地，所述测试按钮的输出端与所述微处理单元MCU电连接，所述测试按钮的输出端向所述微处理单元MCU发送启动信号。