[发明专利]一种岩矿石切片与树脂靶表面平整度识别处理方法

说明书

公开了一种岩矿石切片与树脂靶表面平整度识别处理方法，包括：利用配置有照相机的显微镜对样品的局部进行图像采集；移动样品，并分别对每次移动后的样品进行图像采集，得到局部图像，直至样品的上表面区域全部完成图像采集；对获取到的多个局部图像进行无缝拼接，以得到样品的完整表面图像；在完整表面图像中选取统计区域，并以m×n的网格形式对统计区域进行划分；逐个确定单个网格是否存在破损；统计不存在破损的网格的平整面网格比例值；对不同平整面网格比例值的样品进行不同位置的移送。本发明通过网格统计法计算平整面的比例，衡量表面质量，并提供岩矿石切片与树脂靶表面平整度鉴定标准，为实行质量分级和管控方法提供依据。

技术领域

本发明涉及地质矿产领域，特别涉及一种岩矿石切片与树脂靶表面平整度识别处理方法。

背景技术

地质矿产领域的从业人员常常需要对岩矿石的切片(包括薄片、探针片、光片等)和树脂靶开展光学鉴定，例如通过透、反射光鉴定矿物组成或岩石结构，或者开展原位微区分析，例如激光原位剥蚀、电子探针、扫描电镜等高端分析测试，都需要在较高平整度的切片或树脂靶表面上进行，且不同的研究需要对平整度的要求不尽相同。普通透射光观察岩石切片(厚度0.03-0.05mm)放大倍率一般为25-100倍，对切片表面平整度要求较低，表面存在轻微的坑洞、深划痕、厚度不均对观察影响较小，但是对于流体包裹体观察(放大200-500倍)、表面反射光观察(放大50-200倍)则要求较高，而原位微区分析的激光剥蚀、电子探针、扫描电镜等则对切片和树脂靶提出了极高的要求，表面的各种破损都会对分析产生影响。传统方法在切片和树脂靶表面磨制的过程中一般分为如下几步：粗磨、细磨、精磨和抛光，在磨制减薄的过程中使用了多种磨削介质，如金刚砂、碳化硅、金刚石研磨膏等，由于工艺不同，选用的材质粒度不同且硬度差异较大，会在切片和树脂靶表面造成不同程度损伤和破坏，导致表面平整度质量参差不齐。

不同的研究需求，对岩矿石切片表面质量有不同的平整度要求，而现有技术中缺少一种岩矿石切片与树脂靶表面平整度识别处理技术。

发明内容

为了克服现有技术存在的不足，本发明提供一种岩矿石切片与树脂靶表面平整度识别处理方法，为科研人员选定质量合适的岩矿石切片或树脂靶提供依据，同时可为相关的岩矿石处理公司提供切实可行的质量分级和管控方法。具体技术方案如下：

本发明公开了一种岩矿石切片与树脂靶表面平整度识别处理方法，包括以下步骤：

S1、利用配置有照相机的光学显微镜对待识别的样品的局部进行图像采集，所述样品为岩矿石切片或树脂靶；

S2、移动样品，并分别对每次移动后的样品进行图像采集，得到局部图像，直至所述样品的上表面区域全部完成图像采集；

S3、对获取到的多个局部图像进行无缝拼接，以得到所述样品的完整表面图像；

S4、在所述完整表面图像中选取统计区域，并以m×n的网格形式对所述统计区域进行划分，其中，m、n均为正整数；

S5、对m×n个网格依次进行判断，逐个确定单个网格是否存在破损；

S6、统计m×n个网格中存在破损的网格数量，以得到所述样品的平整面网格比例值；

S7、将平整面网格比例值低于预设的第一比例阈值的样品移送至废料收集容器中，将平整面网格比例值高于预设的第二比例阈值的样品移送至用于收集原位微区分析原料的容器中，将平整面网格比例值介于第一比例阈值与第二比例阈值之间的样品移送至用于收集透射光矿物鉴定原料的容器中，其中，所述第二比例阈值大于第一比例阈值。

可选地，步骤S7中利用机械手或者能够托载样品的智能车或者设置在机械臂端部的吸盘对样品进行移送，所述机械手或智能车或机械臂在控制器的自动控制下移动至相应的容器处。

进一步地，步骤S5中以网格中存在人为破坏的情况判定为存在破损，若满足以下条件中的任意一项或多项，则判定存在人为破坏：