[发明专利]辐射率控制装置和辐射率控制方法

说明书

本发明的辐射率控制装置和辐射率控制方法，涉及测量的应用领域；现有技术测量时所采用的辐射率，可根据各种材料对应的辐射率表，通过人工方式在热像仪中设置来进行确定；但当被测体的温度处于变化的状态时，很多种材料的辐射率随着温度的变化而变化，这时确定该材料的辐射率，是一个难点。本发明的辐射率控制装置，根据第一分析数据和辐射率的对应关系，来确定所述被测体的第二辐射率。解决现有技术存在的问题。

技术领域

本发明的辐射率控制装置和辐射率控制方法，涉及热像检测的应用领域。

背景技术

当需要对被测体热像分析时，使用者可设置针对被测体热像特定部位的点、线、面等的分析区域来获得分析结果。

以拍摄获得的热像数据的温度分析为例，本领域技术人员所公知的，可进行规定处理如修正、插值，基于分析区域位于红外热像中的位置参数，例如提取所设置的分析区域所决定的热像数据，进行温度值的转换处理，获得这些热像数据对应的温度值，而后对得到的温度值，按照分析模式进行分析计算。

对分析区域中的热像数据进行转换为温度值的处理，例如根据设置的被测体的辐射系数、环境温度、湿度、与热像拍摄装置的距离等，以及热像数据的AD值与温度之间的转换系数，通过规定转换公式，得到温度值。

其中，环境温度、湿度、与热像拍摄装置的距离等，均可通过事先预设、或根据相应传感器来获得其具体的参数，相对易于实现；

而测量时所采用的辐射率，可根据各种材料对应的辐射率表，通过人工方式在热像仪中设置来进行确定；但当被测体的温度处于变化的状态时，特别是在500度以上的温度时，很多种材料的辐射率随着温度的变化而变化，这时确定该材料的辐射率，是一个难点。

因此，所理解需要一种辐射率控制装置，其能解决现有技术问题。

发明内容

针对现有技术存在的缺陷,本发明提供一种辐射率控制装置和辐射率控制方法，其能解决现有技术问题。

为此，本发明采用以下技术方案，辐射率控制装置，包括：

获取部，用于获取被测体的热像数据；

分析部，用于根据所述热像数据，基于第一辐射率，分析获得被测体的第一分析数据；

辐射率确定部，用于根据第一分析数据和辐射率的对应关系，来确定所述被测体的第二辐射率。

辐射率控制方法，包括：

获取步骤，用于获取被测体的热像数据；

分析步骤，用于根据所述热像数据，基于第一辐射率，分析获得被测体的第一分析数据；

辐射率确定步骤，用于根据第一分析数据和辐射率的对应关系，来确定所述被测体的第二辐射率。

本发明的其他方面和优点将通过下面的说明书进行阐述。

附图说明：

图1是实施例1的辐射率控制装置13的电气结构的框图。

图2是实施例1的辐射率控制装置13的外型图。

图3是实施例1的存储介质存储的材料信息对应的温度及辐射率等信息的示例。

图4为实施例1的流程图。

图5为实施例1的另一种流程图。

图6为实施例2的流程图。

图7是实施例2的测试材料及分析区域S01\S02的示意图。

图8是实施例3的辐射率控制装置100的电气结构的框图。

图9是实施例3的辐射率控制装置100的示意图。