[发明专利]一种外插卡测试方法及系统

说明书

本发明提供一种外插卡测试方法及系统,所述方法包括如下步骤：S1：选取外插卡在存储端上的组合配置，根据外插卡组合配置接入外插卡，并将全部光口或者网口接入线缆，并接入到交换机上；S2：选取外插卡在存储端上槽位激活的配置来激活外插卡槽位；S3：选取外插卡运行IO的端口配置，进行已经激活槽位上的外插卡待运行IO的端口的选择；S4：搭建IO测试环境；S5：主机内将每条消息切分成若干数据包每个数据包对应一条路径，下发读写IO进行测试；S6：检测存储的全部路径对应端口是否测试通过，若是，执行S7:依次执行完毕外插卡运行IO的端口配置、外插卡在存储端上槽位激活的配置、外插卡在存储上的组合配置的测试。

技术领域

本发明涉及存储设备外插卡测试技术领域，具体涉及一种外插卡测试方法及系统。

背景技术

当前存储设备支持12个外插卡槽位，并且支持10种以上的外插卡，不同外插卡又可以相互组合，同一外插卡同一槽位又可以选择不同的运行IO的端口，预计存在10W以上的外插卡组合场景。在不同的外插卡组合场景下，外插卡端口可能会存在故障问题，这需要产品测试时对外插卡的多种组合场景做全面的测试，以保障产品的高可靠性。

现有测试一般是依据经验，选择少量的外插卡组合，进行依次单个端口的测试，这就导致了外插卡组合场景覆盖不全，每次对一个端口进行测试效率低下的问题。

发明内容

现有测试一般是依据经验，选择少量的外插卡组合，进行依次单个端口的测试，这就导致了外插卡组合场景覆盖不全，每次对一个端口进行测试效率低下的问题，本发明提供一种外插卡测试方法及系统。

本发明的技术方案是：

一方面，本发明技术方案提供一种外插卡测试方法，包括如下步骤：

S1：选取外插卡在存储端上的组合配置，根据外插卡组合配置接入外插卡，并将全部光口或者网口接入线缆，并接入到交换机上；

S2：选取外插卡在存储端上槽位激活的配置来激活外插卡槽位；

S3：选取外插卡运行IO的端口配置，进行已经激活槽位上的外插卡待运行IO的端口的选择；

S4：将主机与存储通过交换机连接，搭建IO测试环境；

S5：主机内将每条消息切分成若干数据包每个数据包对应一条路径，下发读写IO进行测试；

S6：设定时间后，检测存储的全部路径对应端口是否测试通过，若否，执行步骤S5；若是，执行步骤S7；

S7:依次执行完毕步骤S3中外插卡运行IO的端口配置、步骤S2中外插卡在存储端上槽位激活的配置和步骤S1中外插卡在存储上的组合配置的测试。

进一步的，步骤S1之前包括：

根据外插卡在存储端的组合配置建立组合配置数据库；

根据外插卡在存储端槽位激活的配置建立槽位激活配置数据库；

根据外插卡运行IO的端口配置建立端口配置组合数据库。

进一步的，根据外插卡在存储端的组合配置建立组合配置数据库的步骤包括：

根据历史使用记录获取外插卡在存储端的组合配置以及使用过程的记录信息；

将使用过程的记录信息按照设置的信息项的权重进行风险值的计算评估；

按照风险值的高低进行按风险由高到低进行排序，建立组合配置数据库。

进一步的，根据外插卡在存储端槽位激活的配置建立槽位激活配置数据库的步骤包括：

根据历史使用记录选择出现问题大于设定问题阈值的槽位激活配置；