[发明专利]一种结构光全景测量系统有效

专利信息
申请号: 202010926329.6 申请日: 2020-09-07
公开(公告)号: CN112033305B 公开(公告)日: 2021-06-04
发明(设计)人: 李洪儒;包忠毅;袁寒;崔磊 申请(专利权)人: 四川大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25;G01B11/00
代理公司: 深圳众邦专利代理有限公司 44545 代理人: 罗川
地址: 610000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 结构 全景 测量 系统
【说明书】:

发明公开一种结构光全景测量系统,包括底座、旋转台及支架,所述支架还包括竖杆及转动架,所述竖杆立设于所述底座,所述转动架的一端与所述竖杆的顶端转动连接,还包括:转动箱,一转轴贯穿转动架的另一端与转动箱,且转动箱通过转轴与转动架转动连接;挂杆,挂杆位于转动箱内,且与转轴固定连接;设备盒,设备盒位于转动箱的下方,设备盒的一端伸入转动箱;卡杆,卡杆位于转动箱内;卡杆的一端贯穿转动箱后,与转动架抵触,卡杆的另一端贯穿挂杆与设备盒后,通过一弹性件与转动箱弹性连接;当设备盒带动转动箱转动,并翻转至转动架的上方时,卡杆的一端已自转动箱内弹出。本发明提供的结构光全景测量系统能够为结构光测量提供便利的条件。

技术领域

本发明涉及结构光三维测量技术领域,尤其涉及一种结构光全景测量系统。

背景技术

结构光是一组由投影仪和摄像头组成的系统结构。用投影仪投射特定的光信息到物体表面后及背景后,由摄像头采集。根据物体造成的光信号的变化来计算物体的位置和深度等信息,进而复原整个三维空间。

结构光360°测量技术是通过将结构光测量技术与三维点云匹配技术相融合,获取待测物体360°三维信息的一种测量方法。在结构光测量技术中,由于摄像机与投影仪组成系统的视场范围的限制,在单次测量中只能获取物体表面的部分信息。为获取物体表面360°的信息,需在测量过程中旋转物体,使其位于测量盲区的部分转动至可测量区域内。但物体旋转会使重建点云不处于同一物体坐标系下,因此需要利用点云匹配技术将物体运动引入的重建结果坐标系之间的差异去除。同时,受物体表面结构的影响,不同形状物体有最优的测量次数,因此,测量时存在最优旋转角度。现有的方法多采用精密旋转台控制转动角度,且尚未考虑最优旋转角度的问题。若对复杂程度不同的物体采用相同的测量次数,则可能导致复杂物体部分视角缺失,造成点云空洞或简单物体冗余信息过多,点云融合难度增加。而利用精密旋转台控制角度增加了设备对精密仪器的依赖程度。

引证文件202010669239.3;提供了一种基于互相关的结构光360°测量的最优旋转角度判定方法。无需通过精密旋转台控制旋转角度解决传统结构光360°三维测量方法中角度判定的问题。

然而,不论是引证文件中使用的结构光全景测量装置,还是现有技术中提供的结构光全景测量装置,均存在装载摄像头和投影仪的设备盒不便于拆卸的问题。设备盒通过螺栓和螺母可拆卸的连接在支架上,操作人员需要持续拧动螺栓,方可完成设备盒的拆卸,不仅费劲,还需要花费拧动时间。

因此,有必要提供一种新的结构光全景测量系统,以解决上述技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种结构光全景测量系统,用于解决相关技术的设备盒拆卸费劲且浪费时间的技术问题。

为了解决上述技术问题,本发明提供一种结构光全景测量系统,包括底座、旋转台及支架,所述旋转台与所述底座转动连接,所述支架立设于所述底座,所述支架还包括竖杆及转动架,所述竖杆立设于所述底座,所述转动架的一端与所述竖杆的顶端转动连接,所述结构光全景测量系统还包括:

转动箱,一转轴贯穿所述转动架的另一端与所述转动箱,且所述转动箱通过所述转轴与所述转动架转动连接;

挂杆,所述挂杆位于所述转动箱内,且与所述转轴固定连接;

设备盒,所述设备盒位于所述转动箱的下方,所述设备盒的一端伸入所述转动箱;

卡杆,所述卡杆位于所述转动箱内;所述卡杆的一端贯穿所述转动箱后,与所述转动架抵触,所述卡杆的另一端贯穿所述挂杆与所述设备盒后,通过一弹性件与所述转动箱弹性连接;

当所述设备盒带动所述转动箱转动,并翻转至所述转动架的上方时,所述卡杆的一端已自所述转动箱内弹出。

优选地,所述转动架为L形的转动架。

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