[发明专利]一种存储器检测方法和装置

权利要求书

1.一种存储器检测方法，包括：

按照地址设定顺序对所有存储单元分别写0、读第一存储结果、写1和读第二存储结果，基于第一存储结果和第二存储结果确定第一检测状态；

按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写5和写A，直到写完所有存储单元，读第三存储结果，基于第三存储结果确定第二检测状态；

按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写C和写3，直到写完所有存储单元，读第四存储结果，基于第四存储结果确定第三检测状态；

按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写E和写1，直到写完所有存储单元，读第五存储结果，基于第五存储结果确定第四检测状态；以及，

按照地址设定顺序从第一存储单元开始对所有存储器单元逐一进行写设定数据、读数据、基于读数据确定存储单元检测状态，直到根据所有存储单元检测状态确定第五检测状态；以及，

基于第一检测状态、第二检测状态、第三检测状态、第四检测状态和第五检测状态确定存储器检测结果。

2.如权利要求1所述的存储器检测方法，其中按照地址设定顺序从第一存储单元开始对所有存储单元分别写0、读第一存储结果、写1和读第二存储结果，基于第一存储结果和第二存储结果确定第一检测状态包括：

按地址升序，对所有存储单元分别写0；

按地址降序，读取所有存储单元的存储结果确定为第一存储结果，对所有存储单元分别写1；

按地址升序，读取所有存储单元的存储结果确定为第二存储结果；以及，

如果第一存储结果中所有存储单元的内容均为0，第二存储结果中所有存储单元的内容均为1，则第一检测状态为正常，否则第一检测状态为异常。

3.如权利要求1所述的存储器检测方法，其中按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写5和写A，直到写完所有存储单元，读第三存储结果，基于第三存储结果确定第二检测状态包括：

按地址升序，从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写5和写A，直到写完所有存储单元；

按地址降序，读取所有存储单元的存储结果确定为第三存储结果；以及，

如果第三存储结果中所有存储单元的内容从第一存储单元开始至最后一个存储单元依次循环为5、A，则第二检测状态为正常，否则第二检测状态为异常。

4.如权利要求1所述的存储器检测方法，其中所述按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写C和写3，直到写完所有存储单元，读第四存储结果，基于第四存储结果确定第三检测状态包括：

按地址降序，从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写C和写3，直到写完所有存储单元；

按地址升序，读取所有存储单元的存储结果确定为第四存储结果；以及，

如果第四存储结果中所有存储单元的内容从第一存储单元开始至最后一个存储单元依次循环为C、3，则第三检测状态为正常，否则第三检测状态为异常。

5.如权利要求1所述的存储器检测方法，其中所述按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写E和写1，直到写完所有存储单元，读第五存储结果，基于第五存储结果确定第四检测状态包括：

按地址升序，从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写E和写1，直到写完所有存储单元；

按地址降序，读取所有存储单元的存储结果确定为第五存储结果；以及，

如果第五存储结果中所有存储单元的内容从第一存储单元开始至最后一个存储单元依次为E、1，则第四检测状态为正常，否则第四检测状态为异常。

6.如权利要求1所述的存储器检测方法，其中所述按照地址设定顺序从第一存储单元开始对所有存储器单元逐一进行写设定数据、读数据、基于读数据确定存储单元检测状态，直到根据所有存储单元检测状态确定第五检测状态包括：

按地址升序，从第一存储单元开始所有存储器单元逐一进行写设定数据、读数据，基于读数据确定存储单元检测状态，如果读取数据与设定数据相同，则确定这一存储单元检测状态为正常，否则为异常；直到如果所有存储单元检测状态均为正常，则确定第五检测状态为正常，否则第五检测状态为异常。