[发明专利]一种隧道横断面几何形态的检测装置有效

专利信息
申请号: 202010927865.8 申请日: 2020-09-07
公开(公告)号: CN112229375B 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 薛亚东;汪加轩;张润东;樊晓东;张宜霞;李诚滨;周鸣亮;薛丁维;贾非 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: G01C7/06 分类号: G01C7/06;G01B11/00;G01B11/16;G01B11/06;G01B11/24;G01B11/30;G01B17/06;G01B17/02;G01B17/04;G01B17/08;G01B17/00
代理公司: 北京奇眸智达知识产权代理有限公司 11861 代理人: 马廷昭
地址: 200092 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 隧道 横断面 几何 形态 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种隧道横断面几何形态的检测装置,其特征在于,包括:装置主体以及装置基座,所述装置主体位于所述装置基座上,所述装置主体包括:定位纠偏系统、测量系统以及控制系统,所述控制系统分别与所述测量系统以及所述定位纠偏系统相连,

所述测量系统包括:测头转轴、测头以及测杆,所述测头通过所述测头转轴与所述测杆相连,所述测头转轴控制所述测头绕所述测杆一端旋转;

所述定位纠偏系统包括:水平刻度盘、垂直刻度盘、水平转轴以及竖直转轴,所述水平刻度盘与所述垂直刻度盘垂直,所述水平转轴控制所述装置主体沿着所述水平刻度盘转动,所述竖直转轴控制所述测杆沿垂直刻度盘转动;

所述控制系统,用于获取纠偏指令,所述纠偏指令中携带有倾斜纠偏的第一角度以及轴线纠偏的第二角度,并根据所述第一角度控制所述竖直转轴控制测杆沿所述垂直刻度盘旋转目标角度,根据所述第二角度,控制所述水平转轴沿所述水平刻度盘旋转所述第二角度;

所述控制系统,用于在测量隧道横断面的几何形态时,控制所述竖直转轴旋转直至所述测杆旋转至与隧道地面平行,并控制所述测头转轴旋转绕所述测杆一端旋转一周,获得隧道横断面的几何形态的数据;

其中,所述目标角度是所述第一角度与直角之和。

2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括:壳体,所述壳体用于罩住所述装置主体,所述壳体在所述竖直刻度盘的位置设有缺口使所述竖直刻度盘的部分、所述水平刻度盘、所述竖直转轴和测量系统裸露在所述壳体外,使所述竖直刻度盘裸露在所述壳体的部分可显示刻度,所述测杆伸出所述壳体的一端设置所述测头。

3.根据权利要求2所述的检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括:圆水准气泡以及至少两个转角螺旋,所述圆水准气泡设定在所述壳体上方,所述转角螺旋位于所述装置基座底部支撑所述装置基座;

所述转角螺旋用于,根据自身被旋转的角度,升高或者降低所述装置基座,直至所述圆水准气泡处于中心位置。

4.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述装置主体还包括:存储及处理系统,用于接收所述控制系统获得隧道横断面的几何形态的数据,并对所述数据进行处理,确定所述隧道横断面的几何形态。

5.根据权利要求4所述的检测装置,其特征在于,

所述控制系统,获取纠偏指令后,控制所述竖直转轴旋转,直至受所述竖直转轴控制的所述测杆垂直于所述水平角度盘;

所述控制系统,控制所述测杆转轴旋转,使所述测头从所述水平角度盘的起始刻度线开始,绕所述测杆旋转一周,测距仪扫描到隧道内的两个侧面时,得到的两个侧面的数据;

所述控制系统,将所述两个侧面的数据发送给所述存储及处理系统;

所述存储及处理系统,基于所述两个侧面的数据,确定所述轴线纠偏的第二角度,并将所述第二角度发送给所述控制系统;

所述控制系统,将所述水平转轴沿水平角度盘旋转所述第二角度,使得水平角度盘的起始刻度线与所述隧道的轴线平行。

6.根据权利要求4所述的检测装置,其特征在于,所述测头的两端套设有测距仪,所述控制系统,控制所述测头转轴绕所述测杆一端旋转一周,获得测量仪测量所述隧道横断面的几何形态的数据,并将所述数据发送给存储及处理系统。

7.根据权利要求2所述的检测装置,其特征在于,所述装置主体还包括:输入输出系统,所述输入输出系统包括:输入以及显示面板,所述输入以及显示面板位于所述壳体上,所述输入输出系统与所述控制系统相连;

所述输入输出系统,用于接收所述纠偏指令,并将所述纠偏指令发送给控制系统。

8.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括:

固定三角架底座,所述固定三角架底座包括:支座、锁紧设备、脚踏固定设备以及支脚,所述支座与所述支脚相连接,所述支脚设有锁紧设备,用于锁紧所述支脚的伸缩长度,所述支脚远离所述装置基座的一端设有脚踏固定设备,所述支座与所述装置基座相连接。

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