[发明专利]检测光学系统任意波长透射波前的方法有效
申请号: | 202010928541.6 | 申请日: | 2019-06-28 |
公开(公告)号: | CN111999042B | 公开(公告)日: | 2022-06-28 |
发明(设计)人: | 张齐元;韩森;吴鹏;王全召;李雪园 | 申请(专利权)人: | 苏州维纳仪器有限责任公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 | 代理人: | 郁旦蓉 |
地址: | 215123 江苏省苏州市苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 光学系统 任意 波长 透射 方法 | ||
1.一种检测光学系统任意波长透射波前的方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一,利用4种波长为λ1~λ4的检测装置分别对光学系统进行检测,分别得到光学系统在波长为λ1~λ4的每点波前像差以及
步骤二,将得到的每点波前像差代入公式:
式中,为波长为λm时,坐标为(xi,yi)的点对应的波前相对参考波面的偏离值,
式中,i=1,2,3,…,t
m=1,2,3,4
当400nm≤λ1≠…≠λm≠λn≤1000nm时,0.1≤Y1≤3.4,3.6≤Y2≤7.4,1.4≤Y3≤2.5,6.1≤Y1+Y2≤7.5,
当300nm≤λ1≠…≠λm≠λn≤2500nm时,0.1≤Y1≤3.4,3.6≤Y2≤7.4,2≤Y3≤2.5,6.8≤Y1+Y2≤7.5,
计算参数A1i(xi,yi)、B1i(xi,yi),C1i(xi,yi),D1i(xi,yi)的值;
步骤三,将计算得到的A1i(xi,yi)、B1i(xi,yi),C1i(xi,yi),D1i(xi,yi)的值代入公式(1)中,计算光学系统在波长为λn的波前像差
步骤四,根据波前像差得到波长为λn的光学系统完整的透射波前。
2.根据权利要求1所述的检测光学系统任意波长透射波前的方法,其特征在于:
其中,所述检测装置为激光干涉仪。
3.根据权利要求1所述的检测光学系统任意波长透射波前的方法,其特征在于:
其中,所述光学系统为单波长系统、消色差系统以及复消色差系统中的任意一种。
4.根据权利要求1所述的检测光学系统任意波长透射波前的方法,其特征在于:
其中,所述光学系统为复消色差系统。
5.根据权利要求1所述的检测光学系统任意波长透射波前的方法,其特征在于
其中,所述光学系统为任意形状口径。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州维纳仪器有限责任公司,未经苏州维纳仪器有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010928541.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。