[发明专利]一种富硒大米精加工设备

说明书

一种富硒大米精加工设备，包括壳体、进料管，所述壳体包括过筛板、抛光机构、除糠机构、除尘机构、筛选机构、控制箱，设置过筛板与抛光机构，对米粒抛光时不会碾碎米粒且抛光得更为彻底；有效的减少碎米率；设置除糠机构，设置风速不同的第一风机、第二风机，对大小不一的糠具有较好的清除效果；设置筛选机构与控制箱，中央处理器控制第一伺服电机、第二伺服电机、第一风机、第二风机、阀门、照明灯、吹气管启动，以及对光电传感器对大米甄别信号的处理，减少了人为的操作，实现设备的自动化和智能化，减少了重复对大米进行筛选。

技术领域

本发明涉及食品加工领域，具体为一种富硒大米精加工设备

背景技术

稻谷经脱壳后成为糙米，糙米去除绝大部分皮层和一部分胚后成为大米，但是大米的表面还带有少量糠粉，影响大米的外观品质、储存性和制成的米饭的口感，所以需要通过抛光工序去掉这部分糠粉。

申请号为201711223799.0公开了一种大米抛光设备，包括机架、过滤机构和抛光机构，机架转动连接有螺纹杆，过滤机构包括过滤筛和收集槽，过滤筛活动套设在螺纹杆上，收集槽固定连接在螺纹杆上，机架两端固定连接有挡板；抛光机构包括制冷风机和抛光室，抛光室内设有抛光辊，抛光辊内部中空，抛光辊一端转动连接在抛光室的侧壁上并连接有驱动电机，抛光辊另一端穿过抛光室与制冷风机出风口相连，抛光辊上设有多个抛光锤，抛光锤包括锤体和连接管，锤体上设有出气孔，抛光辊和螺纹杆之间连接有伞齿轮，抛光室底部设有滤糠网。

抛光是大米深加工中的一道重要工序，大米生产加工后颗粒大小不一，为了提高大米抛光后的整体质量，需要对大米中含有的碎米进行筛选；产生碎米主要原因在于大米的米粒大小不同，不同米粒的大米同时抛光，大米粒的大米被碾碎，同时小米粒的大米抛光不彻底；现有的大米深加工抛光设备筛选效率低，浪费了使用者大量的时间，降低了大米深加工抛光设备的实用性。

因此，本发明提供一种富硒大米精加工设备，以解决上述问题。

发明内容

针对现有技术存在的不足，本发明目的是提供一种富硒大米精加工设备，以解决以上问题。

本发明提供一种富硒大米精加工设备，具体技术方案如下：

一种富硒大米精加工设备，包括壳体1、进料管10：所述壳体1包括，过筛板2，所述过筛板2包括右侧板块7、左侧板块8，所述右侧板块7上设有第一凹槽16，所述第一凹槽16中设有第一过筛网11；所述左侧板块8上设有第二凹槽13，所述第二凹槽13中设有第二过筛网12；所述右侧板块7位于所述过筛板2较高一侧，所述过筛板2包括振动电机9，所述振动电机9安装在所述第二过筛网12上；所述第一凹槽16内壁固定连接有第一垫条17，所述第一垫条17连接有第一垫块18，所述第一垫块18与第一过筛网11贴合并与所述右侧板块7边缘齐平；所述第二凹槽13内壁固定连接有第二垫条14，所述第二垫条14连接有第二垫块15，所述第二垫块15与第二过筛网12贴合并与所述左侧板块8边缘齐平；

抛光机构3，所述抛光机构3安装在所述过筛板2下方，其包括两个抛光室19，所述抛光室19中分别设有第一抛光辊组23、第二抛光辊组22，所述第一抛光辊组23、第二抛光辊组22中设有第一转轴26、第二转轴28，所述第一转轴26、第二转轴28固定连接所述第一抛光辊组23、第二抛光辊组22并贯穿所述壳体1一侧，所述第一转轴26连接第一伺服电机24输出端，其上设有第一齿轮25，所述第一齿轮25与所述第一转轴26固定连接，所述第二转轴28连接第二齿轮27，所述第二齿轮27啮合所述第一齿轮25；所述第一抛光辊组23、第二抛光辊组22中抛光辊上设有多个抛光丸29，所述抛光丸29为环形结构；所述第一抛光辊组23相对于第二抛光辊组22，所述第一抛光辊组23的抛光辊较大；所述抛光机构3中梯形漏斗21设置为梯形结构，所述梯形漏斗21出口相对设置，且均设于所述U型通道34上方；