[发明专利]一种玉器测量装置在审
申请号: | 202010931935.7 | 申请日: | 2020-09-08 |
公开(公告)号: | CN112050718A | 公开(公告)日: | 2020-12-08 |
发明(设计)人: | 李淑仪 | 申请(专利权)人: | 李淑仪 |
主分类号: | G01B5/08 | 分类号: | G01B5/08 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 526200 广东省肇庆*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 玉器 测量 装置 | ||
本发明公开了一种玉器测量装置,包括测量台、调节装置和测量条,测量台上方一侧设有立柱,立柱上方设有横梁,横梁内部上方设有滑轨,横梁下方设有定位条,开口一侧的横梁内设有调节螺纹筒,调节螺纹筒内设有调节螺栓,调节螺栓一端延伸出调节螺纹筒并设有测量条,测量条穿过开口并延伸至测量台,测量台侧边设有刻度尺;本发明通过利用调节螺栓调节测量条,调节螺栓在调节螺纹筒内可以进行微距调节,然后与定位条相配合后可以对不同直径大小的玉手镯进行直径测量,测量过程中稳定性高,比传统的人工使用卡尺测量的精度高,且通过在测量台表面设置防滑层以及在测量条和定位条内壁上设置保护垫层能够保证测量过程中不会对玉手镯表面产生损伤。
技术领域
本发明涉及测量装置领域,尤其涉及一种玉器测量装置。
背景技术
玉器,是指用玉石雕刻成的器物,玉器包含古玉,自雕琢成器算起100年以上的玉器称为古玉或古玉器,现代玉饰的品种款式多种多样,这些珠宝玉饰通过精心的配带,会给人们的生活、衣饰起到珠联璧合的效果;
玉器在制作过程中需要对尺寸进行测量,例如玉手镯具有不同的大小直径之分,制作过程中就需要对尺寸反复进行测量以保证制作精度,现有技术中对玉手镯进行测量时,大多数只用卡尺进行测量,这导致测量精度比较低,因此本发明提出一种玉器测量装置,以解决现有技术中的不足之处。
发明内容
针对上述问题,本发明提出一种玉器测量装置,通过利用调节螺栓调节测量条,调节螺栓在调节螺纹筒内可以进行微距调节,然后与定位条相配合后可以对不同直径大小的玉手镯进行直径测量,测量过程中稳定性高,比传统的人工使用卡尺测量的精度高,且通过在测量台表面设置防滑层以及在测量条和定位条内壁上设置保护垫层能够保证测量过程中不会对玉手镯表面产生损伤。
本发明提出一种玉器测量装置,包括测量台、调节装置和测量条,所述测量台上方一侧设有立柱,所述立柱上方设有横梁,所述横梁内部上方设有滑轨,所述横梁底部设有开口,所述横梁下方设有定位条,所述开口一侧的横梁内设有调节螺纹筒,所述调节螺纹筒内设有调节螺栓,所述调节螺栓一端延伸出调节螺纹筒并设有测量条,所述测量条穿过开口并延伸至测量台,所述测量条上方通过滑块与滑轨滑动连接,所述测量条和定位条位于同一水平线上,所述测量台侧边设有刻度尺。
进一步改进在于:所述测量台上方设有开口槽,所述测量条延伸至开口槽内,所述测量台表面设有防滑层。
进一步改进在于:所述测量条和定位条内壁上设有保护垫层。
进一步改进在于:所述测量条条上设有测量指针,所述测量指针顶端与测量台边缘处于同一竖直水平面上。
本发明的有益效果为:本发明通过利用调节螺栓调节测量条,调节螺栓在调节螺纹筒内可以进行微距调节,然后与定位条相配合后可以对不同直径大小的玉手镯进行直径测量,测量过程中稳定性高,比传统的人工使用卡尺测量的精度高,且通过在测量台表面设置防滑层以及在测量条和定位条内壁上设置保护垫层能够保证测量过程中不会对玉手镯表面产生损伤。
附图说明
图1为本发明结构主视示意图。
图2为本发明开口槽结构俯视示意图。
图3为本发明测量指针结构侧视示意图。
其中:1、测量台;2、测量条;3、立柱;4、横梁;5、滑轨;6、开口;7、定位条;8、调节螺纹筒;9、调节螺栓;10、刻度尺;11、防滑层;12、保护垫层;13、测量指针;14、开口槽。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
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