[发明专利]一种基片厚度连续可调的微波电路测试夹具

权利要求书

1.一种基片厚度连续可调的微波电路测试夹具，其特征在于：包括第一压片层、金属滑块、第二压片层和弹簧螺钉；

所述的第一压片层上具有五个固定孔，包括第一固定孔、第二固定孔、第三固定孔、第四固定孔和第五固定孔；所述的第二固定孔为SMA接口穿过孔，所述的第二固定孔的上、下两侧为SMA连接器的固定螺孔，分别为第一固定孔、第三固定孔；所述的第四固定孔和第五固定孔为弹簧螺钉的固定螺孔，用于调节与固定夹具；

所述的第一压片层上具有三个突起的金属块，分别为第一金属块、第二金属块和第三金属块，所述的第一金属块、第二金属块为矩形，用于和金属滑块一起固定微波电路板；所述的第三金属块为圆柱形金属块，用于调整金属滑块和第二压片层的位置，从而调节夹具适用于不同厚度微波电路板；

所述的金属滑块一侧具有斜坡，为第一斜坡，在第一斜坡下端有一处3/4圆孔，所述的3/4圆孔用于在夹具组合后与SMA连接器的第三固定孔相吻合；

所述的第二压片层上侧具有斜坡，为第二斜坡，所述的第二斜坡与所述的第一斜坡相契合，所述的第二斜坡下方有三个圆孔，分别为第一圆孔、第二圆孔和第三圆孔，所述的第一圆孔为第一压片层上圆柱形的第三金属块的穿过孔，所述的第二圆孔和第三圆孔为弹簧螺钉的固定螺孔，利用弹簧螺钉将调节好的夹具进行固定。

2.根据权利要求1所述的基片厚度连续可调的微波电路测试夹具，其特征在于：所述的第一固定孔、第三固定孔通过固定螺钉进行固定。

3.根据权利要求1所述的基片厚度连续可调的微波电路测试夹具，其特征在于：所述的第二压片层通过第一圆孔在第一压片层上的圆柱形第三金属块前后移动。

4.根据权利要求1所述的基片厚度连续可调的微波电路测试夹具，其特征在于：金属滑块与第一压片层上的两个矩形金属块之间产生的空隙用来适应不同厚度的微波电路板。

5.根据权利要求1所述的基片厚度连续可调的微波电路测试夹具，其特征在于：所述的弹簧螺钉为两个，包括第一弹簧螺钉、第二弹簧螺钉。

6.根据权利要求5所述的基片厚度连续可调的微波电路测试夹具，其特征在于：所述的第一弹簧螺钉穿过第四固定孔和第二圆孔，并固定。

7.根据权利要求5所述的基片厚度连续可调的微波电路测试夹具，其特征在于：所述的第二弹簧螺钉穿过第五固定孔和第三圆孔，并固定。