[发明专利]自动测试电路、自动测试仪表及自动测试系统有效

专利信息
申请号: 202010937153.4 申请日: 2020-09-08
公开(公告)号: CN112114244B 公开(公告)日: 2022-08-02
发明(设计)人: 刘小雄;林海亮;罗光辉;周勤勉 申请(专利权)人: 深圳市拓普泰克技术股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R15/12;G01R1/067;G01R1/04
代理公司: 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542 代理人: 刘冰
地址: 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道浪心社区料坑第三工业*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 自动 测试 电路 仪表 系统
【说明书】:

发明公开了一种自动测试电路、自动测试仪表及自动测试系统,其中,自动测试电路包括第一开关切换模块、第二开关切换模块以及分别与第一开关切换模块、第二开关切换模块相连接的控制模块,第一开关切换模块具有用于连接外部电源正负极的电源接口以及用于连接待测电路板正负极的电路板接口;第二开关切换模块与第一开关切换模块相连接,且第二开关切换模块具有用于连接表笔正负极的表笔接口以及用于连接位于待测电路板上的至少一组电压测试点的至少一组电压测试接口;控制模块,于控制第一开关切换模块和/或第二开关切换模块的开关状态。本发明公开的动测试电路可解决现有数字万用表使用不方便,测试效率低的问题。

技术领域

本发明属于电子技术领域,具体涉及一种自动测试电路、自动测试仪表及自动测试系统。

背景技术

在电子产品的功能测试中经常需要在不断电的各种工作状态条件下去测量电流以及相关测试点的工作电压,目前一般采用数字万用表测量电子产品的电流、电压等各种参数,然而传统的数字万用表在使用过程中均需人工调整测量项目和量程,非常麻烦,导致测试效率大大降低。

发明内容

为了克服现有技术的上述缺点,本发明的目的在于提供一种自动测试电路,旨在解决现有数字万用表使用不方便,测试效率低的问题。

本发明为达到其目的,所采用的技术方案如下:

一种自动测试电路,包括第一开关切换模块、第二开关切换模块以及分别与所述第一开关切换模块、所述第二开关切换模块相连接的控制模块,其中,所述第一开关切换模块具有用于连接外部电源正负极的电源接口,以及用于连接待测电路板正负极的电路板接口;所述第二开关切换模块与所述第一开关切换模块相连接,且所述第二开关切换模块具有用于连接表笔正负极的表笔接口,以及用于连接位于所述待测电路板上的至少一组电压测试点的至少一组电压测试接口;所述控制模块,用于控制所述第一开关切换模块和/或所述第二开关切换模块的开关状态,以将至少一组所述电压测试接口分别连接至所述表笔的正负极,或者,将所述待测电路板的正极连接至所述表笔的正极、所述外部电源的正极连接至所述表笔的负极。

进一步地,所述第二开关切换模块包括第一双刀双掷继电器,其中,所述第一双刀双掷继电器的其中一个线圈连接脚与所述控制模块相连接,另一个线圈连接脚接地;所述第一双刀双掷继电器的两个常闭连接脚用于连接至少一组所述电压测试点,且所述第一双刀双掷继电器的其中一个常闭连接脚还用于连接所述待测电路板的负极;所述第一双刀双掷继电器的两个常开常闭公共脚分别用于连接所述表笔的正负极;所述第一双刀双掷继电器的其中一个常开连接脚与所述第一开关切换模块相连接,另一个常开连接脚用于连接所述待测电路板的正极。

进一步地,所述第二开关切换模块还包括第一控制开关,其中,所述第一双刀双掷继电器的其中一个线圈连接脚通过所述第一控制开关与所述控制模块相连接。

进一步地,所述第二开关切换模块还包括至少一个第二双刀双掷继电器,其中,至少一个所述第二双刀双掷继电器的其中一个线圈连接脚与所述控制模块相连接,另一个线圈连接脚接地;至少一个所述第二双刀双掷继电器的其中一个常开常闭公共脚至少用于连接所述待测电路板的负极,另一个常开常闭公共脚与所述第一双刀双掷继电器的另一个常闭连接脚相连接;至少一个所述第二双刀双掷继电器的两个常开连接脚用于连接一组所述电压测试点。

进一步地,所述第二开关切换模块还包括至少一个第二控制开关,其中,各个所述第二控制开关与各个所述第二双刀双掷继电器一一对应设置,且相应的所述第二双刀双掷继电器的其中一个线圈连接脚通过相应的所述第二控制开关与所述控制模块相连接。

进一步地,所述第一开关切换模块包括第三双刀双掷继电器,其中,所述第三双刀双掷继电器的其中一个线圈连接脚与所述控制模块相连接,另一个线圈连接脚接地;所述第三双刀双掷继电器的其中一个常闭连接脚与所述第一双刀双掷继电器的其中一个常开连接脚相连接;所述第三双刀双掷继电器的两个常开常闭公共脚分别用于连接所述外部电源的正负极;所述第三双刀双掷继电器的两个常开连接脚分别用于连接所述待测电路板的正负极。

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