[发明专利]一种射频干扰自动化测试方法、系统、设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202010937246.7 申请日: 2020-09-08
公开(公告)号: CN112085748A 公开(公告)日: 2020-12-15
发明(设计)人: 杨红波;张钢;徐晓昂;陈俊飞;熊麟彪 申请(专利权)人: 扬芯科技(深圳)有限公司
主分类号: G06T7/11 分类号: G06T7/11;G06T7/70;H04B17/309;H04B17/345
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 潘登
地址: 518000 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 射频 干扰 自动化 测试 方法 系统 设备 存储 介质
【说明书】:

发明实施例公开了一种射频干扰自动化测试方法、系统、设备及存储介质,所述方法包括:获取待检测物体的测试图像;确定所述测试图像上的检测区域;根据所述检测区域的像素坐标确定所述检测区域的空间位置坐标;基于所述检测区域的空间位置坐标对所述检测区域进行射频干扰自动化测试,得到检测结果;根据所述检测结果生成可视化干扰检测报告。本发明实施例实现了射频干扰的自动化检测和对测试结果的智能分析及可视化呈现,提高了检测精度和检测效率。

技术领域

本发明实施例涉及测试技术领域,尤其涉及一种射频干扰自动化测试方法、系统、设备及存储介质。

背景技术

带无线射频的电子产品,在电磁兼容可靠设计中除了要解决常规的EMC(ElectroMagnetic Compatibility,电磁兼容)干扰问题外,射频电路和天线与电子产品中各其他电路走线、功能组件、关键IC(Integrated Circuit,集成电路)和元器件等部件之间,也会发生电磁干扰问题。这种电磁干扰问题主要表现在射频主动发射信号的主频、谐波和杂散频率干扰其他部件,导致部件性能或功能的下降或丧失。

为了检测电子产品中是否会存在上述电磁干扰问题,通常需要对电子产品的相关部件进行射频干扰检测。传统的射频干扰测试方法是测试人员手持射频探头对电子产品需要检测的部件进行逐一测试并记录测试结果,这种检测方式依赖人工进行,检测效率低下且测试成本高。

发明内容

有鉴于此,本发明实施例提供一种射频干扰自动化测试方法、系统、设备及存储介质,以实现射频干扰的自动化检测,提高射频干扰检测的检测效率。

第一方面,本发明实施例提供一种射频干扰自动化测试方法,包括:

获取待检测物体的测试图像;

确定所述测试图像上的检测区域;

根据所述检测区域的像素坐标确定所述检测区域的空间位置坐标;

基于所述检测区域的空间位置坐标对所述检测区域进行射频干扰检测,得到检测结果;

根据所述检测结果生成可视化干扰检测报告。

进一步的,确定所述测试图像上的检测区域包括:

根据所述测试图像的框选区域确定检测区域;

根据预设检测点间距或预设检测点数量确定所述检测区域内的多个检测点。

进一步的,根据所述检测区域的像素坐标确定所述检测区域的空间位置坐标包括:

根据所述检测区域中每个检测点的像素坐标确定每个检测点的空间位置坐标。

进一步的,基于所述检测区域的空间位置坐标对所述检测区域进行射频干扰检测,得到检测结果包括:

根据预设排列顺序确定当前检测点是否为最后一个检测点;

若当前检测点不是最后一个检测点,则确定射频发射探头的当前空间位置坐标是否与所述当前检测点的空间位置坐标一致;

若射频发射探头当前空间位置坐标与所述当前检测点的空间位置坐标一致,则通过所述射频发射探头向所述当前检测点进行射频干扰检测,得到所述当前检测点的检测结果,并根据预设排列顺序将下一个检测点作为当前检测点,返回根据预设排列顺序确定当前检测点是否为最后一个检测点的步骤。

进一步的,通过所述射频发射探头向所述当前检测点进行射频干扰检测,得到所述当前检测点的检测结果包括:

通过所述射频发射探头向所述当前检测点发射预设频率和预设功率的干扰信号;

确定所述当前检测点处所述待检测物体基于所述干扰信号的检测结果。

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