[发明专利]芯片调试装置、系统和芯片

说明书

本发明公开了一种芯片调试装置、系统和芯片，其中芯片调试装置设置于芯片的内部，芯片调试装置包括读写单元、存储器读写端口、对外传输端口；存储器读写端口与芯片的存储器电连接；对外传输端口与芯片的外部接口电连接；读写单元通过存储器读写端口对芯片的存储器进行读写操作；读写单元通过对外传输端口与芯片的外部的设备通信。本发明通过较低的成本实现芯片调试，无需拆机，并且能够获取完整的存储器的信息。

技术领域

本发明属于芯片调试技术领域，尤其涉及一种芯片调试装置、系统和芯片。

背景技术

产品在客户端发生系统异常后，如果想看芯片里的存储器、硬件信号及存储器上的信息来分析问题，目前只能先拆机、焊接JTAG后、再外挂TRACE32/Codeviser等专用调试工具来进行分析，这种方案一来需要破坏问题现场导致无法直接获取一手信息、二来需要专业人员进行焊接、操作不便，三来TRACE32等调试工具价格不菲、成本高昂。本发明利用芯片自带的串口方案，出现问题时，直接使用串口进行调试，简单方便又不增加成本。

芯片异常时的调试方式通常有如下两种：

1、外挂专门的调试工具进行分析，比如TRACE32/Codeviser(一种调试工具)等。需要硬件上预留专用接口(JTAG(Joint Test Action Group，联合测试工作组)/USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)/UART(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter，通用异步收发传输器)等)资源、并经专业硬件工程师焊接接头、且需要购买TRAC32硬件/Codeviser等专用调试设备，这种方案一来需要破坏问题现场导致无法直接获取一手信息、二来需要专业人员进行焊接、操作不便，三来TRACE32等调试工具价格不菲、成本高昂、且需要专业调试人员才能进行相关操作。

2、发生异常时，重启AP，将DDR(双倍速率同步动态随机存储器)里的内容dump(备份)到TF卡(一种存储卡)，取出后，分析DDR里数据。将DDR里的内容dump到TF卡，里面仅有DDR内容，没有芯片里的寄存器和硬件信号及其他存储器(比如NAND(一种闪存设备)/EMMC(Embedded Multi Media Card，嵌入式多面体存储卡)/UFS(Universal Flash Storage，通用闪存存储)等)的信息，获取的信息非常有限；另外，该方案只能读取已有信息、不能对寄存器进行写操作、调试方法受限。

发明内容

本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中芯片调试需要拆机的缺陷，提供一种芯片调试装置、系统和芯片。

本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题：

本发明提供一种芯片调试装置，芯片调试装置设置于芯片的内部，芯片调试装置包括读写单元、存储器读写端口、对外传输端口；

存储器读写端口与芯片的存储器电连接；

对外传输端口与芯片的外部接口电连接；

读写单元通过存储器读写端口对芯片的存储器进行读写操作；

读写单元通过对外传输端口与芯片的外部的设备通信。

较佳地，芯片运行异常时发出一中断请求信号，读写单元接收中断请求信号后配置对外传输端口与芯片的外部接口建立连接。

较佳地，芯片调试装置包括一单片机。