[发明专利]基于工业CT图像的点阵镂空结构尺寸偏差快速表征方法

权利要求书

1.一种基于工业CT图像的点阵镂空结构尺寸偏差快速表征方法，其特征在于：所述方法包括，

步骤1、将被检测对象复杂点阵镂空结构进行CT检测，获得三维CT图像数据I(x,y,z)，其中x,y,z表示在三维数据中的位置坐标，I表示灰度值；

步骤2、设定三维CT图像分割阈值t，将三维CT图像沿z方向逐层进行二值化处理，形成一系列顺序排列的CT二值化图像群B_Z(x,y)，其中Z取值为0到m，m为图像数量；

步骤3、以第Z＝n张CT二值化图像群B_Z(x,y)的局部区域b_n(x,y)为基准，与CT二值化图像群B_Z(x,y)中的局部区域b_Z(x,y)进行相关性计算，则相关性计算结果h_Z(x,y)为其中，b_Z(x,y)＝B_Z(x,y),a≤x≤b,c≤y≤d，α代表行数、β表示列数；

取相关性计算结果h_Z(x,y)的最大值max[h_Z(x,y)]绘制曲线，得到序列图像相关性最大值max[h_Z(x,y)]曲线图，计算序列图像相关性最大值max[h_Z(x,y)]曲线图中相邻峰值的间距l_Z，在二值化图像群B_Z(x,y)中，选取顺序排列的l_Z张二值化图像灰度值进行叠加获得伪灰度图像L_Z(x,y)；

步骤4、对步骤3中的伪灰度图像L_Z(x,y)进行x方向、y方向相关性计算，令伪灰度图像L_Z(x,y)有M行、N列：

1)x方向相关性计算：以行为单位，设第i行的数据为L_Z(i,y)，取第i＝k的行数据L_Z(k,y)与伪灰度图像L_Z(x,y)的所有行数据L_Z(i,y)进行互相关计算，得到第i＝k行的相关性计算结果h_i(y)，σ表示列数；

取各行的相关性计算结果h_i(y)的最大值max[h_i(y)]绘制曲线，得到行相关性最大值max[h_i(y)]曲线图，计算行相关性最大值max[h_i(y)]曲线图中相邻峰值的间距l_X；

2)y方向相关性计算：以列为单位，设第j列的数据为L_Z(x,j)，取第j＝k的列数据L_Z(x,k)与伪灰度图像L_Z(x,y)的所有列数据L_Z(x,k)进行互相关计算，得到第j＝k列的相关性计算结果h_j(x)，

取各列的相关性计算结果h_j(x)的最大值max[h_j(x)]绘制曲线，得到列相关性最大值max[h_j(x)]曲线图，计算行相关性最大值max[h_j(x)]曲线图中相邻峰值的间距l_Y；

步骤5、将步骤3中的伪灰度图像L_Z(x,y)，按照行间距为l_X、列间距为l_Y分割成网格化的多个局部图像，将所有长宽为l_X×l_Y局部图像进行叠加取均值，形成模板图像S(x,y)；

步骤6、将步骤2中的CT二值化图像群B_Z(x,y)沿z方向进行叠加形成被检测工件整体的伪灰度图像W_Z(x,y)；

将整体的伪灰度图像W_Z(x,y)，按照行间距l_X、列间距l_Y分割成网格化的多个局部图像w_Z(x,y)，计算各局部图像w_Z(x,y)与模板图像S(x,y)的灰度标准偏差std(w_Z)，有

步骤7、计算整体的伪灰度图像W_Z(x,y)与模板图像S(x,y)的灰度标准偏差均值通过sstd值对复杂点阵镂空结构整体进行尺寸的量化评价。