[发明专利]确定电子系统的电线中的缺陷的特征的方法和装置

说明书

本发明公开确定电子系统的电线中的缺陷的特征的方法和装置，其中所述方法包括：(i)从多个可选的时钟信号中选择时钟信号；(ii)从多个可选的参考电压中选择参考电压；(iii)通过以下方式获得信号：在所述电线上产生第一信号转变；和接收响应于缺陷对所述第一信号转变的反射而出现的第二信号转变；(iv)通过使用所述选择的时钟信号对所述信号进行采样来产生多个数值；(v)通过将所述多个数值与所述选择的参考电压进行比较来产生多个输出值；和(vi)基于所述多个输出值确定所述缺陷的特征。实施本发明实施例可确定缺陷的各种特征。

【技术领域】

本申请一般涉及电子系统，并且更具体地，涉及用于确定电子系统的电线中的缺陷的特征的方法和装置。

【背景技术】

电子系统不可避免地受到缺陷部件的影响，例如不完整的焊料，断线，错误连接，有缺陷的插座等。这些缺陷部件会对电子系统的操作产生负面影响甚至破坏。检测这些缺陷部件非常繁琐，因为它涉及拆卸整个系统，然后探测其所有部件，直到找到缺陷。该过程在数据中心应用中尤其麻烦，数据中心应用中线路和连接的数量可以是数千甚至更多。

【发明内容】

本发明提供确定电子系统的电线中的缺陷的特征的方法和装置，可用于确定缺陷的各种特征。

本发明提供一种确定电子系统的电线中的缺陷的特征的方法，包括：(i)从多个可选的时钟信号中选择时钟信号；(ii)从多个可选的参考电压中选择参考电压；(iii)通过以下方式获得信号：在所述电线上产生第一信号转变；和接收响应于缺陷对所述第一信号转变的反射而出现的第二信号转变；(iv)通过使用所述选择的时钟信号对所述信号进行采样来产生多个数值；(v)通过将所述多个数值与所述选择的参考电压进行比较来产生多个输出值；和(vi)基于所述多个输出值确定所述缺陷的特征。

本发明提供一种用于确定电子系统的电线中的缺陷的特征的装置，包括：集成电路(IC)，被配置为：(i)从多个可选的时钟信号中选择时钟信号；(ii)从多个可选的参考电压中选择参考电压；(iii)通过以下方式获得信号：在所述电线上产生第一信号转变；和接收响应于缺陷对所述第一信号转变的反射而出现的第二信号转变；(iv)通过使用所述选择的时钟信号对所述信号进行采样来产生多个数值；(v)通过将所述多个数值与所述选择的参考电压进行比较来产生多个输出值；和(vi)基于所述多个输出值确定所述缺陷的特征。

本发明提供另一种用于确定电子系统的电线中的缺陷的特征的装置，包括：集成电路，所述集成电路包括：发射器；信号驱动器，耦接于所述发射器和电线；模拟数字转换器(ADC)，耦接于所述电线；时钟选择电路，耦接于所述ADC，所述时钟选择电路被配为从多个可选的时钟信号中选择时钟信号；参考电压产生器，被配置为多个可选的参考电压中选择参考电压；比较器，包括耦接于所述ADC的第一输入和耦接于所述参考电压产生器的第二输入；和时域反射法(TDR)电路，耦接于所述比较器。

实施本发明实施例可用于确定缺陷的各种特征。

【附图说明】

图1根据一些非限制性实施例示出包括由电线进行互连的多个电子组件的电子系统的示例。

图2A根据一些非限制性实施例示出信号驱动器202和包括缺陷的电线203的示意图。

图2B根据一些非限制性实施例示出图2A的信号驱动器输出的信号转变如何沿电线进行传输的示意图。

图2C根据一些非限制性实施例示出在电线中出现开路的情形下信号驱动器202的输出的示例。

图2D根据一些非限制性实施例示出存在的缺陷具有的阻抗高于电线的特征阻抗时信号驱动器的输出的示例。

图2E根据一些非限制性实施例示出沿着电线没有缺陷的示例。

图2F根据一些非限制性实施例示出存在的缺陷具有的阻抗小于电线的特征阻抗时信号驱动器的输出的示例。