[发明专利]基于激光位移传感器的多探测器系统光轴平行性校正方法

说明书

本发明公开了一种基于激光位移传感器的多探测器系统光轴平行性校正方法，一、利用双激光位移传感器测角原理，测量被校正探测器侧平面调整偏角；二、多次测量侧平面调整偏角及探测器输出图像中十字中心偏移量，建立两者之间的数学模型；三、通过图像处理算法求得探测器输出图像中十字中心与靶标偏差量，带入探测器侧平面调整偏角与图像十字中心偏移量数学模型中求得探测器侧平面偏角调整量；四、调整长圆孔量使双激光位移传感器测角系统数显值与所求得偏角调整量一致即完成该探测器光轴平行性校正。本发明方法量化了光轴校正中长圆孔调整量，校正过程可视化易于操作，校正精度高并可记录偏角调整量，用于之后拆卸复装无需再次校正。

技术领域

本发明属于多探测器平台光电系统光轴调校技术领域，涉及一种基于激光位移传感器的多探测器系统光轴平行性校正方法。

背景技术

为满足光电设备全天候、智能化及复杂使用环境下的使用需求，多光电传感器组成的多模平台光电系统被大量研制并已投入使用。在多传感器平台光电系统的研制及生产过程中，需多次校正各传感器光轴平行性以保证光电设备指示精度。

目前常用的光轴平行性校正方法，是通过探测器对平行光管中目标靶的观测，调节探测器方位或俯仰角度，从而满足系统光轴平行性要求。但在调校过程中方位或俯仰角度只有一个可使用垫片调节，另一角度只能通过结构预留长圆孔进行调节；长圆孔调节过程中调节量无法量化，仅依靠人工经验通过反复拆装进行调校，耗时较长、工作量大且多次拆装极易增加系统结构应力。因此，为解决该问题，需设计一种新型光轴平行性校正方法，量化长圆孔调节角度变化量，快速校正多光电传感器系统光轴平行性。

发明内容

(一)发明目的

本发明的目的是：提供一种采用激光位移传感器进行的可视化、调整参数可量化且具有重复拆装后无需再次校正能力的光轴平行性校正方法。

(二)技术方案

为了解决上述技术问题，本发明提供一种基于激光位移传感器的多探测器系统光轴平行性校正系统，校正系统包括：

光轴校正平台7；

光具座4，安装在光轴校正平台7上，其上安装待校正光电探测器3和基准光电探测器10；具体地，在光轴校正平台7上并排布置光具座固定支架一5和光具座固定支架二6，光具座4安装在光具座固定支架一5和光具座固定支架二6上，实现被支撑和固定；待校正光电探测器3安装在光具座4上方，基准光电探测器10安装在光具座4下方；

纵向传感器支架8，可移动地安装在光轴校正平台7上，其可移动方向为靠近或远离光具座4的方向；

横向传感器支架9，安装在纵向传感器支架8上，其长度方向与纵向传感器支架8的可移动方向垂直；

第一激光位移传感器1及第二激光位移传感器2，并排安装在横向传感器支架9上，其发射口朝向待校正光电探测器3侧面。

基于上述校正系统，本发明的光轴平行性校正方法包括以下步骤：

第一步：搭建光轴平行性校正装置，并将其置于平行光管有效通光孔径中

校正装置包括安装工装，在安装结构工装上安装第一激光位移传感器1、第二激光位移传感器2、待校正光电探测器3与基准光电探测器10，使第一激光位移传感器1、第二激光位移传感器2、待校正光电探测器3三者间的位置关系可调节；并通过串口完成第一激光位移传感器1与第二激光位移传感器2的数据流传输。