[发明专利]基于码距与极化信道可靠度的极化码比特反转译码方法有效
申请号: | 202010944595.1 | 申请日: | 2020-09-10 |
公开(公告)号: | CN112087285B | 公开(公告)日: | 2021-07-20 |
发明(设计)人: | 李里;孙瀚辰;范平志 | 申请(专利权)人: | 西南交通大学 |
主分类号: | H04L1/00 | 分类号: | H04L1/00;H03M13/09;H03M13/13 |
代理公司: | 成都信博专利代理有限责任公司 51200 | 代理人: | 舒启龙 |
地址: | 610031 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 极化 信道 可靠 比特 反转 译码 方法 | ||
1.一种基于码距与极化信道可靠度的极化码比特反转译码方法,其特征在于,步骤如下:
步骤1:确定码字的最小、次小码重,按行重升序顺序排列信息比特集合;具体为:根据每包码长N、原始信息比特数量k、CRC校验序列长度Lcrc估算极化信道可靠度,并选择可靠度高的极化信道作为信息比特位,所有信息比特位集合记为在极化码生成矩阵中,选择与各信息比特位对应的行,统计并记录各行的行重;按各行重升序顺序重新排列各信息比特位,重新排序后的信息比特位集合记为最小行重表示为Dm、次小行重表示为Ds;
步骤2:发射机进行极化码编码,并经过BPSK调制后发送;接收机将接收的极化码码字进行首次SCL译码,记为第0次译码;在SCL译码的路径分裂过程中记录出现的完备状态比特ui,所有ui的集合记为β;若第0次译码失败,即没有通过CRC查错码校验,则进行比特反转过程;
步骤3:开始构造反转序列;从集合中剔除集合β中的元素后得到集合Θ中各元素仍根据其对应生成矩阵的行重按升序排列;用|Θ|表示Θ中元素的数量,将Θ中对应行重为Dm的元素放到集合Θm中,并根据各元素对应极化信道可靠度进行升序排列;将Θ中对应行重为Ds的元素放到集合Θs中,并根据各元素对应极化信道可靠度进行升序排列;最后将Θ集合中其它元素放到集合Θe中,并根据各元素对应极化信道可靠度进行升序排列;假设最大反转次数为T,则需要从集合Θm,Θs和Θe中选择T个比特位作为反转序列F={f1,f2,...,fT};反转序列的挑选方法有如下两种:
第一种方法:比较T与|Θm|+|Θs|的大小关系,当T>|Θm|+|Θs|时,改变T的取值为T=|Θm|+|Θs|;否则,T保持不变;
第二种方法,只要求T≤|Θ|;
在上述两种方法中,反转序列元素fi,1≤i≤T的取值按以下过程构成:
如果T≤|Θm|,则
fi=Θm[i],i=1,2,...,T;
如果|Θm|<T≤|Θm|+|Θs|,则
fi=Θm[i],i=1,2,...,|Θm|;
i=1,2,...,T-|Θm|;
如果|Θm|+|Θs|<T≤|Θ|,则
fi=Θm[i],i=1,2,...,|Θm|;
i=1,2,...,|Θs|;
步骤4:根据首次SCL译码结果和反转序列F来执行多次比特反转过程,每次比特反转过程本质为执行一次特殊的SCL译码;具体为:在第i次比特反转过程中执行的SCL译码与常规SCL译码相比,把反转序列中指明的信息比特位fi当做冻结比特位处理,该冻结比特位fi的取值总是由第0次SCL译码结果中信息比特位fi的取值反转后来充当;当第i次比特反转过程,即第i次特殊SCL译码结束后,得到对所有k+Lcrc个信息比特的新估计值对进行CRC校验,若通过校验则认为译码成功,否则进行第i+1次比特反转过程;当译码成功或者比特反转过程的执行次数达到T次后,结束步骤4。
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