[发明专利]一种显示屏的老化方法和显示屏老化处理装置

说明书

本发明提供一种显示屏的老化方法和显示屏老化处理装置。显示屏的处理方法包括以下步骤：老化电流冲击，对所述显示屏施加冲击电流，所述冲击电流呈多阶段阶梯式递增。通过老化电流冲击，使显示屏微短路处持续承受电流冲击发热，直至完全烧断，使微短路的情况得到恢复。冲击电流阶梯式递增，使得冲击电流只对微短路点进行冲击，修复微短路点过程中不会破坏显示屏。

技术领域

本发明涉及显示屏质量控制领域，具体涉及一种显示屏的老化方法和显示屏老化处理装置。

背景技术

发光显示屏中，若像素的发光器件生产过程中因环境因素造成导电微尘残留于发光膜层中，会造成导电微尘所在的像素的阴极和阳极之间发生微短路或完全短路。微短路的像素存在不稳定性，使用一段时间后易发生漏过电流，导致该像素无法驱动点亮，造成显示屏出现亮线不良。

因此需要对微短路的像素进行处理，使显示屏能够恢复正常显示。

发明内容

针对上述问题，本发明提供一种显示屏的老化方法和显示屏老化处理装置，以解决发光显示屏因微短路造成亮线不良的风险问题且不会破坏显示屏。

本发明提供一种显示屏的老化方法，包括以下步骤：老化电流冲击，对所述显示屏施加冲击电流，所述冲击电流呈多阶段阶梯式递增。

可选的，所述冲击电流在每一阶段中为脉冲式电流。

可选的，显示屏的老化方法还包括以下步骤：在进行所述老化电流冲击之前，选择测试显示屏，并对测试显示屏进行击穿电流测试，以获取反向击穿电流；进行老化电流冲击之前，对所述显示屏进行前期漏电流测试，根据所述前期漏电流测试的结果，对待老化的显示屏的不良风险等级进行分类；根据所述反向击穿电流和所述不良风险等级确定初始冲击方案。

可选的，根据所述反向击穿电流和所述不良风险等级确定初始冲击方案中的冲击电流峰值，所述冲击电流峰值小于所述反向击穿电流；根据所述不良风险等级确定初始冲击方案中的冲击电流的时间。

可选的，不良风险等级越高，冲击电流峰值越大；不良风险等级越高，老化电流冲击的时间越长。

可选的，显示屏的老化方法还包括以下步骤：所述冲击电流呈多阶段阶梯式递增的过程包括第一阶段电流冲击至第N阶段电流冲击；依据所述初始冲击方案施加第一阶段电流冲击的冲击电流；第一阶段电流冲击至第N阶段电流冲击之间，对所述显示屏进行冲击中漏电流测试；判定冲击中漏电流测试的漏电流是否小于阈值；若漏电流测试的漏电流大于阈值，则依据所述冲击中漏电流测试的结果，修正所述初始冲击方案，以得到修正冲击方案；根据所述修正冲击方案执行第一阶段电流冲击之后的老化电流冲击，直至冲击中漏电流测试的漏电流小于阈值。

本发明还提供一种显示屏老化处理装置，包括老化电流冲击部件，所述电流冲击部件适于对所述显示屏施加多阶段阶梯式递增的冲击电流。

可选的，显示屏老化处理装置还包括：击穿电流测试部件，所述击穿电流部件适于对测试显示屏进行击穿电流测试，以获取反向击穿电流；漏电流测试部件，所述漏电流测试部件适于对显示屏进行前期漏电流测试；分类模块，分类模块适于根据所述前期漏电流测试的结果对待老化的显示屏的不良风险等级进行分类；控制部件，分别连接所述电流冲击部件、漏电流测试部件和击穿电流测试部件，所述控制部件适于控制所述击穿电流测试部件进行击穿电流测试，所述控制部件适于控制所述漏电流测试部件进行前期漏电流测试；方案获取模块，所述方案获取模块适于根据所述反向击穿电流和所述不良风险等级确定所述老化电流冲击部件的初始冲击方案。

可选的，漏电流测试部件还适于对显示屏进行冲击中漏电流测试；所述方案获取模块还适于依据所述冲击中漏电流测试的漏电流，修正所述初始冲击方案，以得到所述老化电流冲击的修正冲击方案；所述显示屏老化处理装置还包括判断模块，所述判断模块适于判断所述冲击中漏电流测试的漏电流是否小于阈值。