[发明专利]SSD测试平台与测试方法

权利要求书

1.一种SSD测试平台，其特征在于，由PC端、处理电路和测试电路组成；所述PC端输出测试数据至处理电路，经所述处理电路对测试数据进行处理后生成测试指令输出至测试电路，所述测试电路根据测试指令对若干SSD进行测试并反馈测试结果至处理电路，最终由PC端获取若干个SSD的测试结果；

所述处理电路包括主控电路、电源电路、第一电压转换电路、第二电压转换电路和数据传输电路；所述测试电路包括若干测试模块以测试SSD，所述测试模块包括模数转换电路、电信号放大电路、SSD插口电路和变压及电压切换电路；

所述电源电路将12V的电分别输出至第一电压转换电路和变压及电压切换电路，具有如下第一分支和第二分支：

第一分支-所述第一电压转换电路对12V的电进行电压转换，生成6V的电分别输出至模数转换电路、数据传输电路和第二电压转换电路，所述第二电压转换电路将6V的电转换为3.3V的电并输出至主控电路，所述数据传输电路通过6V的电建立主控电路与PC端的数据交互通道；

第二分支-所述变压及电压切换电路根据12V的电可进行各种变压切换调节以输出不同电压、电流、功率值的电信号至电信号放大电路和SSD插口电路，所述SSD插口电路通过电信号对SSD进行测试，所述电信号放大电路对电信号进行放大处理输出至模数转换电路，所述主控电路获取模数转换电路中电信号进行模数转换以计算出供给SSD测试用的的电流、电压及功率的数值。

2.根据权利要求1所述的SSD测试平台，其特征在于，所述变压及电压切换电路包括处理芯片U1，所述处理芯片U1的第2引脚和第7引脚接通电源电路以接入12V的电，其中所述第2引脚为电压输入脚，所述第7引脚串接使能开关S1为芯片使能脚；

所述处理芯片U1的第5引脚串接有若干电阻和变压开关组SW1，所述变压开关组SW1的各组开关还分别串接对应的电阻；

所述处理芯片U1的第3引脚输出电信号至电信号放大电路和SSD插口电路。

3.根据权利要求1所述的SSD测试平台，其特征在于，所述电信号放大电路包括处理芯片U4，所述变压及电压切换电路输出电信号至处理芯片U4的第10引脚进行处理芯片U4的供能；

所述处理芯片U4的第16引脚接收变压及电压切换电路输出电信号，经过所述处理芯片U4的放大处理后由第9引脚携带电流信息的电压信号至模数转换电路。

4.根据权利要求1所述的SSD测试平台，其特征在于，所述模数转换电路包括处理芯片U7，所述处理芯片U7的第8引脚接收第一电压转换电路输入的6V的电以进行供能，所述处理芯片U7的第1引脚、第5引脚、第6引脚、第7引脚均与主控电路接通。

5.根据权利要求1所述的SSD测试平台，其特征在于，所述SSD插口电路、电信号放大电路、模数转换电路和变压及电压切换电路可数量相同具有若干个，用于测试对应若干个SSD。

6.根据权利要求1所述的SSD测试平台，其特征在于，所述第一电压转换电路包括处理芯片U3，所述处理芯片U3的第2引脚和第7引脚接通电源电路以接入12V的电，其中所述第2引脚为电压输入脚，所述第7引脚串接使能开关S3为芯片使能脚；

所述处理芯片U3的第5引脚串接有电阻R9和R20，实现所述处理芯片的第3引脚输出6V的电至数据传输电路、第二电压转换电路和模数转换电路。

7.根据权利要求1所述的SSD测试平台，其特征在于，所述处理电路还包括烧录及监测电路，所述烧录及监测电路分别连接PC端和主控电路。

8.根据权利要求1所述的SSD测试平台，其特征在于，所述处理电路还包括复位电路，所述复位电路连接主控电路。