[发明专利]一种快速高精度测向方法有效
申请号: | 202010950706.X | 申请日: | 2020-09-11 |
公开(公告)号: | CN112051540B | 公开(公告)日: | 2021-06-01 |
发明(设计)人: | 罗正华;周嘉伟;刘一达;廖雄;曾超;黄建刚;李霞;罗晓笛;何亮 | 申请(专利权)人: | 成都大学 |
主分类号: | G01S3/14 | 分类号: | G01S3/14 |
代理公司: | 成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229 | 代理人: | 李蕊 |
地址: | 610031*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 快速 高精度 测向 方法 | ||
1.一种快速高精度测向方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、通过粗测向天线阵接收目标信号,获取目标粗方位角;
S2、根据精测向天线阵接收目标信号,构建阵列数据的协方差矩阵;
S3、对阵列数据的协方差矩阵进行特征分解,得到噪声子空间特征向量矩阵;
S4、采集天线阵列参数,并通过天线阵列参数构建导向矢量关系式;
S5、根据目标粗方位角、噪声子空间特征向量矩阵和导向矢量关系式进行二维谱峰搜索,获取目标方位角和俯仰角,完成高精度测向。
2.根据权利要求1所述的快速高精度测向方法,其特征在于,所述步骤S1包括以下分步骤:
S11、设定粗测向天线阵的参考天线接收电压为:
E0=A0cosωt
其中,A0表示目标信号振幅,ω表示目标信号角频率,t表示时间;
S12、以参考天线接收电压E0为基础,获取东南西北四个方向粗测向天线阵阵元的接收电压为:
其中,EE、ES、EW和EN分别表示东南西北四个方向粗测向天线阵阵元的接收电压,π表示圆周率,λ表示目标信号的波长,θ表示目标信号入射仰角,α表示目标信号入射方位角,d表示天线直径;
S13、根据接收电压EE、ES、EW和EN,获取第一接收电压差ENS和第二接收电压差EEW为:
S14、通过第一接收电压差ENS和第二接收电压差EEW获取带有模糊的目标粗方位角α模糊为:
S15、判断是否存在第一接收电压差ENS为正且第二接收电压差EEW为正的情况,若存在,则无模糊的目标粗方位角为α粗=α模糊,否则进入步骤S16;
S16、判断是否存在第一接收电压差ENS为负且第二接收电压差EEW为正的情况,若存在,则无模糊的目标粗方位角为α粗=α模糊+180°,否则进入步骤S17;
S17、判断是否存在第一接收电压差ENS为正且第二接收电压差EEW为负的情况,若存在,则无模糊的目标粗方位角为α粗=α模糊+180°,否则进入步骤S18;
S18、判定第一接收电压差ENS为负且第二接收电压差EEW为负,则无模糊的目标粗方位角为α粗=α模糊+360°;
S19、将无模糊的目标粗方位角作为最终的目标粗方位角。
3.根据权利要求1所述的快速高精度测向方法,其特征在于,所述步骤S2包括以下分步骤:
S21、根据精测向天线阵接收目标信号,将精测向天线阵中各阵元接收的数据合成阵列数据矩阵X;
S22、通过阵列数据矩阵X构建阵列数据的协方差矩阵R。
4.根据权利要求3所述的快速高精度测向方法,其特征在于,所述步骤S21中阵列数据矩阵X为:
其中,Data_ch1,Data_ch2,...,Data_chM分别表示第1,2,...,M个精测向天线阵中各阵元接收的数据;
所述步骤S22中协方差矩阵R为:
R=E[XXH]=AE[SSH]AH+σ2I=ARSAH+σ2I
其中,E[]表示期望求取函数,H表示共轭转置,A表示阵列流行矩阵,S表示空间信号数据矢量,σ2表示理想噪声功率,I表示单位矩阵,RS表示信号协方差矩阵。
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