[发明专利]一种测量微小材料样本多频点介电常数的装置与方法

权利要求书

1.一种测量微小材料样本多频点介电常数的装置，其特征在于，包括高频谐振结构，所述高频谐振结构包括螺孔(5)和进出口(1)，所述进出口(1)用于放入或取出微扰体(3)，所述螺孔(5)用于螺纹连接调谐螺钉，所述高频谐振结构用于测量所述微扰体(3)的介电常数，所述调谐螺钉用于改变高频谐振结构的工作频率点；

所述高频谐振结构为谐振腔(2)，所述高频谐振结构工作频率点在30GHz~300GHz范围内；

所述高频谐振结构为长方体结构；

所述高频谐振结构包括两个腔体，分别为样本腔体和波导腔体，两个腔体之间隔开，且两个腔体之间通过矩形窗连通；

所述样本腔体用于放置微扰体(3)，所述波导腔体用于传导输入输出波导(4)。

2.根据权利要求1所述的一种测量微小材料样本多频点介电常数的装置，其特征在于，所述样本腔体包括设置在一端的螺孔(5)，还包括进出口(1)，所述螺孔(5)和所述进出口(1)均为打通样本腔体侧面的孔洞结构，其中所述螺孔(5)的内部内侧有配合所述调谐螺钉的内螺纹。

3.根据权利要求2所述的一种测量微小材料样本多频点介电常数的装置，其特征在于，包括多个螺孔(5)和多个进出口(1)。