[发明专利]尺寸检测方法、装置、电子设备及可读存储介质

说明书

本申请提供一种尺寸检测方法、装置、电子设备及可读存储介质。方法包括：获取第一图像及第二图像，第一图像、第二图像分别为经过标定的第一相机、第二相机拍摄放置在工作面上的待测物料得到的图像，第一图像包括待测物料的第一边线，第二图像包括待测物料的第二边线；从第一图像确定第一边线的第一标记点，以及从第二图像确定第二边线的第二标记点；将待测物料的厚度数据及第一标记点在第一图像中的第一像素位置数据、第二标记点在第二图像中的第二像素位置数据，输入计算模型，通过计算模型确定第一标记点与第二标记点之间的实际目标距离。在本方案中，通过结合待测物料的厚度，有利于提高物料尺寸检测的准确性。

技术领域

本发明涉及计算机图像处理技术领域，具体而言，涉及一种尺寸检测方法、装置、电子设备及可读存储介质。

背景技术

随着计算机图像处理技术的发展，计算机图像处理技术的应用场景越来越广泛。例如，计算机图像处理技术可以用于检测物体表面的尺寸。比如，通过识别物体表面在图像中的像素尺寸以计算物体表面的实际尺寸。目前，在利用利用图像计算各类物体的尺寸时，若物体之间厚度变化大，便会影响所检测的尺寸的准确性。

发明内容

本申请提供一种尺寸检测方法、装置、电子设备及可读存储介质，能够提高物料尺寸检测的准确性。

为了实现上述目的，本申请实施例所提供的技术方案如下所示：

第一方面，本申请实施例提供一种尺寸检测方法，所述方法包括：

获取第一图像及第二图像，所述第一图像、所述第二图像分别为经过标定的第一相机、第二相机拍摄放置在工作面上的待测物料得到的图像，所述第一图像包括所述待测物料的第一边线，所述第二图像包括所述待测物料的第二边线；

从所述第一图像确定所述第一边线的第一标记点，以及从所述第二图像确定所述第二边线的第二标记点；

将所述待测物料的厚度数据及所述第一标记点在所述第一图像中的第一像素位置数据、所述第二标记点在所述第二图像中的第二像素位置数据，输入计算模型，通过所述计算模型确定所述第一标记点与所述第二标记点之间的实际目标距离。

在上述的实施方式中，通过结合待测物料的厚度，对物料中第一标记点、第二标记点的实际距离进行检测与校正，有利于提高物料尺寸检测的准确性。

结合第一方面，在一些可选的实施方式中，将所述待测物料的厚度数据及所述第一标记点在所述第一图像中的第一像素位置数据、所述第二标记点在所述第二图像中的第二像素位置数据，输入计算模型，通过所述计算模型确定所述第一标记点与所述第二标记点之间的实际目标距离，包括：

将所述厚度数据、所述第一像素位置数据、所述第二像素位置数据输入所述计算模型，所述第一像素位置数据包括在所述第一图像中所述第一标记点与第一参考点的第一像素距离及所述第一标记点与所述第一参考点、第二参考点的第一相对位置，所述第二像素位置数据包括在所述第二图像中所述第二标记点与第二参考点的第二像素距离及所述第二标记点与所述第一参考点、所述第二参考点的第二相对位置，所述计算模型包括所述第一相机拍摄所述工作面得到的图像中像素距离与实际距离的第一对应关系、所述第二相机拍摄所述工作面得到的图像中像素距离与实际距离的第二对应关系、所述第一参考点与所述第二参考点的在所述工作面上的实际相对距离；

基于所述厚度数据、所述第一相机与所述工作面的第一距离，通过所述计算模型对所述第一像素距离进行校正，得到第三像素距离，以及基于所述厚度数据、所述第二相机与所述工作面的第二距离，通过所述计算模型对所述第二像素距离进行校正，得到第四像素距离；

根据所述第一对应关系，通过所述计算模型确定所述第三像素距离对应的第一实际距离，以及根据所述第二对应关系，通过所述计算模型确定所述第三像素距离对应的第二实际距离；